另外，由于RFID采用無線傳輸方式，再加上實際工作環(huán)境復雜，存在競爭、沖突和干擾問題。因此，RFID信號測試項目很多：包括許多和時間相關的參數(shù)，如讀寫器和標簽發(fā)射機響應時間參數(shù)、跳頻時間、碼元周期等，還包括頻域指標、調制域指標等。

曾志總結了RFID測試面臨的主要挑戰(zhàn)：
1.讀寫器測試
- 需要能夠準確、快速地捕獲RFID的間歇性突發(fā)信號；
- 需要兼容多種調制和解碼方式及標準；
- 需要時域頻域和調制域的聯(lián)合分析，時間相關測量 （如標簽讀取的時序）；
- 需要強大的頻域觸發(fā)功能，捕獲頻域上的特定信號（如干擾）；
- 跳頻信號捕獲（觸發(fā)）和解調分析 。
2.標簽測試
- 需要對微弱信號的測量和分析能力；
- 需要兼容多種調制和解碼方式，自動解調和解碼
3.系統(tǒng)測試
- 密集環(huán)境下的交互和抗干擾測試；
- 一致性（互通性）測試；
- 系統(tǒng)讀寫周期分析；
- 解碼和信令測試；
- 需要長存儲，存儲多個完整的讀寫周期，便于對讀寫狀態(tài)分析。

“能實時、準確捕獲RFID間歇性信號，支持多標準、多域分析功能等，這是相應信號分析設備應對上述三個方面測試挑戰(zhàn)所要具備的特性。”曾志指出，“泰克基于DPX專利技術的實時信號分析儀（RTSA）系列以及最新推出的集成頻譜分析儀的混合域示波器MDO4000系列為RFID研發(fā)、現(xiàn)場和認證測試提供了強大的解決方案平臺。”
圖3： 實時頻譜分析儀和傳統(tǒng)頻譜分析儀的區(qū)別。

跨越研發(fā)、現(xiàn)場、認證測試“三重門”

RFID的測試分為研發(fā)測試（讀寫器實驗室研發(fā)、系統(tǒng)開發(fā)和驗證）、現(xiàn)場測試（系統(tǒng)調試、電磁環(huán)境評估、干擾查找和定位、數(shù)據(jù)采集）和認證測試（RFID標準一致性測試、系統(tǒng)互通性測試 ）三個階段。

泰克公司提供的RFID測試解決方案——RTSA和混合域分析儀及示波器MDO在研發(fā)測試階段所能發(fā)揮的作用分為以下三個方面：
1.讀寫器設備的Troubleshooting：如進行讀寫器信號實時頻譜分析（頻率、功率、調制帶寬等），調制質量分析，瞬態(tài)噪聲分析，跳頻捕獲和調制質量分析，時序測量，命令測試等；
2.標簽測試：靈敏的觸發(fā)設置，捕獲低調制深度標簽信號，時序測量，頻譜測試，負載調制能量和質量；
3.分析和評估讀寫器與標簽互通特性：實時頻譜分析（同頻頻譜分析），時序測量，碰撞分析，標簽調制回波質量分析。