測(cè)試文章進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)

分布式導(dǎo)彈測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì)

針對(duì)目前導(dǎo)彈測(cè)試系統(tǒng)重復(fù)配置、測(cè)試資源無(wú)法得到充分利用的現(xiàn)狀，以LXI總線為基礎(chǔ)，綜合各種儀器總線的優(yōu)勢(shì)，構(gòu)建了一種多總線融合的分布式導(dǎo)彈測(cè)試系統(tǒng)，在ATML(自動(dòng)測(cè)試標(biāo)記語(yǔ)言)基礎(chǔ)上進(jìn)行了系統(tǒng)軟件的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)，達(dá)到測(cè)試資源共享、分散操作、集中管理的目的。深入研究了不同總線儀器融合、不同接口模塊同步觸發(fā)的解決途徑，為實(shí)現(xiàn)儀器可互換性和可移植性奠定了基礎(chǔ)。系統(tǒng)較好地滿足了當(dāng)前導(dǎo)彈保障領(lǐng)域的需求，具有一定的工程應(yīng)用價(jià)值。
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安捷倫推出業(yè)界首款符合eMMC標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試應(yīng)用軟件

安捷倫科技公司(NYSE：A)日前推出業(yè)界第一款符合 eMMC(嵌入式多媒體卡)標(biāo)準(zhǔn)、適用于嵌入式存儲(chǔ)解決方案的測(cè)試應(yīng)用軟件。Agilent N6465A eMMC 測(cè)試應(yīng)用軟件可在 Agilent Infiniium 9000、90000A、90000 X 和 90000 Q 系列示波器上自動(dòng)執(zhí)行一系列參數(shù)測(cè)試，包括電氣和計(jì)時(shí)測(cè)量，幫助存儲(chǔ)器設(shè)計(jì)工程師更快地驗(yàn)證和調(diào)試 eMMC NAND 閃存卡。
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本土芯片測(cè)試企業(yè)在逐漸壯大

?????????????????????????? “中國(guó)芯”企業(yè)成長(zhǎng)十年有余，也催生了一批芯片/晶圓片（wafer）測(cè)試企業(yè)。例如上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司，2001年初創(chuàng)時(shí)期，國(guó)內(nèi)IC產(chǎn)業(yè)鏈還不夠完善，很多初創(chuàng)和
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Qualcomm使用NI VST進(jìn)行802.11ac測(cè)試，改進(jìn)測(cè)試速度和范圍

就傳統(tǒng)儀器而言，每次測(cè)試大約會(huì)取得40個(gè)重要的WLAN收發(fā)器數(shù)據(jù)點(diǎn)。 NI PXI矢量信號(hào)收發(fā)儀的測(cè)試速度非?？欤虼四軋?zhí)行完整的增益表掃頻，進(jìn)而采集共300,000個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)。
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嵌入式系統(tǒng)軟件測(cè)試及測(cè)試案例開(kāi)發(fā)

嵌入式系統(tǒng)軟件測(cè)試及測(cè)試案例開(kāi)發(fā),測(cè)試是傳統(tǒng)軟件開(kāi)發(fā)的最后一步。整個(gè)軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程，需要收集要求、進(jìn)行高層次的設(shè)計(jì)、詳細(xì)設(shè)計(jì)、創(chuàng)建代碼、進(jìn)行部分單元測(cè)試，然后集成，最后才開(kāi)始最終測(cè)試。最佳的開(kāi)發(fā)實(shí)踐應(yīng)包含代碼檢查這個(gè)步驟。然而代碼檢查一
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基于STM32單片機(jī)的火控系統(tǒng)信號(hào)采集測(cè)試

基于STM32單片機(jī)的火控系統(tǒng)信號(hào)采集測(cè)試,火控系統(tǒng)是控制火炮瞄準(zhǔn)和發(fā)射的系統(tǒng)，火控計(jì)算機(jī)是火控系統(tǒng)的核心，在完成火控解算進(jìn)而引導(dǎo)高炮射擊時(shí)具有重要作用。由于火控系統(tǒng)信號(hào)眾多，狀態(tài)復(fù)雜，對(duì)其關(guān)鍵信號(hào)的采集測(cè)試就顯得尤為重要[1].普通信號(hào)采集測(cè)試裝
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飛針測(cè)試儀電子模塊測(cè)試問(wèn)題及解決方法

摘要：重點(diǎn)討論了飛針在線測(cè)試技術(shù)在電子模塊測(cè)試中的測(cè)試與實(shí)現(xiàn)。介紹了飛針測(cè)試原理，闡述了電子模塊飛針測(cè)試的流程以及測(cè)試中電子模塊，提出了短路測(cè)試中出現(xiàn)的問(wèn)題的解決辦法，以及NOD文件的快速修改技巧，并且詳
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PCIE 3.0的動(dòng)態(tài)均衡測(cè)試挑戰(zhàn)

一、PCIE 3.0中使用的動(dòng)態(tài)均衡概念因?yàn)镻CIE 3.0信號(hào)的速率可以達(dá)到8Gb/s，而且鏈路通道走線也可能會(huì)很長(zhǎng)，這可能會(huì)導(dǎo)致高速信號(hào)衰減過(guò)大，在接收端無(wú)法得到張開(kāi)的眼圖。因此在PCIE 3.0的Tx和Rx端均使用了均衡設(shè)置，以
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誤碼率分析儀應(yīng)對(duì)高速通信的測(cè)試挑戰(zhàn)

高速總線的速度和復(fù)雜度正在不斷提升，并且提升速度有越來(lái)越快的趨勢(shì)。為了提升通信速率，將多個(gè)高速串行總線并行組織起來(lái)使用，將會(huì)引起串?dāng)_現(xiàn)象。另一個(gè)問(wèn)題是符號(hào)間干擾(ISI)。銅線具有介電效應(yīng)，數(shù)據(jù)速率越快，距
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使用Eye Doctor II工具分析解決測(cè)試著色難題

在信號(hào)完整性測(cè)試中，由于探測(cè)點(diǎn)受限引入的傳輸線延遲，及芯片的寄生參數(shù)，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試波形在邊沿上有臺(tái)階或回溝。這種因測(cè)試引入的這種差異叫做測(cè)試著色，測(cè)試著色引入的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題一般不用解決，但如何分辨測(cè)試著
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利用GOOP編程技術(shù)的前熔斷絲測(cè)試

通過(guò)提供一種有效的軟件架構(gòu)，替換現(xiàn)有的測(cè)試軟件，從而能夠提供更好的技術(shù)支持與測(cè)試可靠性。完成這項(xiàng)工作不應(yīng)導(dǎo)致較長(zhǎng)時(shí)間的停產(chǎn)，而應(yīng)確保方便進(jìn)行持續(xù)改進(jìn)。The Solution:利用GOOP（圖形化面向?qū)ο缶幊蹋┸浖軜?gòu)
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手機(jī)RF抗干擾能力的測(cè)試

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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射頻陶瓷貼片電容測(cè)試

電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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數(shù)據(jù)中心網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)的HA測(cè)試

高可用性需求是數(shù)據(jù)中心最重要的需求之一，由于數(shù)據(jù)中心承載著網(wǎng)絡(luò)中的重要業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)，所以業(yè)務(wù)的高可用性（即業(yè)務(wù)的連續(xù)性）受到極大關(guān)注。不同等級(jí)的數(shù)據(jù)中心對(duì)網(wǎng)絡(luò)的高可用性有著不同的要求，但設(shè)備和鏈路的冗余設(shè)
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射頻陶瓷貼片電容的測(cè)試

中心議題：貼片電容模型測(cè)試夾具解決方案：網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)量并結(jié)合一定的校準(zhǔn)方法目前廣泛應(yīng)用于各種射頻電路中的貼片電容因其尺寸和電容量均較小,沒(méi)有比較合適的射頻段測(cè)試儀器。我們應(yīng)用微波網(wǎng)絡(luò)理論分析后,自行設(shè)計(jì)
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測(cè)試介紹

　　中文名稱(chēng)：　　測(cè)試　　英文名稱(chēng)：　　test 　　定義1：　　對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備，進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科) 　　定義2：　　用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。　　應(yīng)用學(xué)科：　　通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]