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測(cè)試
測(cè)試 文章 進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)
可控硅dIT/dt測(cè)試線路的設(shè)計(jì)與測(cè)量

- 摘要:dIT/dt是衡量可控硅可靠性的一個(gè)重要參數(shù),過(guò)高的dIT/dt可能會(huì)導(dǎo)致可控硅損壞或失效,故設(shè)計(jì)一個(gè)能準(zhǔn)確測(cè)量此參數(shù)的低成本線路顯得尤為關(guān)鍵。本文設(shè)計(jì)了一個(gè)簡(jiǎn)潔的測(cè)量可控硅dIT/dt的測(cè)試電路,并介紹了它的測(cè)試原理與測(cè)試方法,且測(cè)量了市場(chǎng)上的BTA208-600B,得出了測(cè)試結(jié)果,與該產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)的值一致。可應(yīng)用于研發(fā)可控硅的企事業(yè)單位和研究所測(cè)試可控硅。
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試 可控硅 dIT/dt 201208
基于BIST的IP核測(cè)試方案設(shè)計(jì)
- 1 引言 隨著半導(dǎo)體工藝的發(fā)展,片上系統(tǒng)SOC已成為當(dāng)今一種主流技術(shù)。基于IP復(fù)用的SOC設(shè)計(jì)是通過(guò)用戶自定義邏輯(UDL)和連線將IP核整合為一個(gè)系統(tǒng),提高了設(shè)計(jì)效率,加快了設(shè)計(jì)過(guò)程,縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間。但是隨著設(shè)
- 關(guān)鍵字: BIST IP核 測(cè)試 方案設(shè)計(jì)
移動(dòng)回傳網(wǎng)絡(luò)測(cè)試方案介紹

- 1 引言 基于MPLS技術(shù)的MPLS-TP(MPLS Transport Profile)結(jié)合了以太網(wǎng)和基于面向連接的技術(shù)特點(diǎn),成為3G/4G移動(dòng)回傳網(wǎng)絡(luò)(Mobile Backhaul)的技術(shù)實(shí)現(xiàn)方案。思博倫通信基于L2~L7 綜合網(wǎng)絡(luò)測(cè)試平臺(tái)Spirent TestCen
- 關(guān)鍵字: 介紹 方案 測(cè)試 網(wǎng)絡(luò) 移動(dòng)
基于安捷倫B2900A在半導(dǎo)體激光器測(cè)試
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: B2900A 安捷倫 半導(dǎo)體激光器 測(cè)試
VLSI芯片-數(shù)字信號(hào)測(cè)試
- 數(shù)字信號(hào)測(cè)試作為VLSI芯片測(cè)試的基礎(chǔ),已經(jīng)是一項(xiàng)應(yīng)用十分廣泛的技術(shù)。各個(gè)EDA供應(yīng)商、ATE供應(yīng)商都有著十分成熟的解決方案,包括功能測(cè)試仿真向量的產(chǎn)生,轉(zhuǎn)換和實(shí)際測(cè)試操作,以及芯片的AC/DC參數(shù)測(cè)試。作為高速信號(hào)
- 關(guān)鍵字: VLSI 芯片 數(shù)字信號(hào) 測(cè)試
測(cè)試介紹
中文名稱:
測(cè)試
英文名稱:
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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