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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 測(cè)試

淺析嵌入式MCU硬件設(shè)計(jì)相關(guān)要素

  • 1、引言目前,集成電路的嵌入式技術(shù)發(fā)展越來(lái)越快,各色嵌入式產(chǎn)品也越來(lái)越受歡迎,尤其是以大屏幕多功能的手機(jī)、平板電腦等為典型代表,做為其控制核心
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基于電芯替換的電動(dòng)汽車動(dòng)力電池組維護(hù)方法

  • 鋰電池憑借其能量密度高、體積密度高、工作電壓高、無(wú)記憶效應(yīng)、自放電低且無(wú)污染等優(yōu)點(diǎn),成為電動(dòng)汽車動(dòng)力源的最佳選擇。為滿足電動(dòng)汽車功率驅(qū)動(dòng)需求
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電池充電電源噪聲的分析和解決思路

  • 設(shè)計(jì)電池供電的產(chǎn)品時(shí),工程師需要保證電池在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中的適用性。相關(guān)測(cè)試常采用專用電池測(cè)試設(shè)備,但有時(shí)工程師會(huì)轉(zhuǎn)而采用標(biāo)準(zhǔn)的通用程控電源對(duì)
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超高頻射頻識(shí)別標(biāo)簽靈敏度測(cè)試

  • 超高頻標(biāo)簽是指840M到960MHz無(wú)源射頻識(shí)別標(biāo)簽。這個(gè)波段的標(biāo)簽起源自EPCglobal Class 1 Generation 2標(biāo)準(zhǔn)。 其中EPCglobal是電子產(chǎn)品編碼標(biāo)準(zhǔn)組織,第
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芯片反向技術(shù)干貨:FIB芯片電路修改

  • 在各類應(yīng)用中,以線路修補(bǔ)和布局驗(yàn)證這一類的工作具有最大經(jīng)濟(jì)效益,局部的線路修改可省略重作光罩和初次試作的研發(fā)成本,這樣的運(yùn)作模式對(duì)縮短研發(fā)到
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PCB為什么要進(jìn)行清洗?

  • 在為非功能性或不良性能電路排除故障時(shí),工程師通常可運(yùn)行仿真或其它分析工具從原理圖層面考量電路。如果這些方法不能解決問(wèn)題,就算是最優(yōu)秀的工程師
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動(dòng)力電池的安全測(cè)試圖文解讀

  • 動(dòng)力電池的安全性是新能源汽車發(fā)展中備受關(guān)注的熱點(diǎn),圖1是TUV的關(guān)于動(dòng)力電池安全方面測(cè)試項(xiàng)目,大致分為安全測(cè)試(Safety Testing)和濫用測(cè)試(Abuse T
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資深工程師從7個(gè)方面分析開(kāi)關(guān)電源的設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)

  • 1、電源設(shè)計(jì)項(xiàng)目前期各個(gè)參數(shù)注意細(xì)節(jié)借鑒下NXP的這個(gè)TEA1832圖紙做個(gè)說(shuō)明。分析里面的電路參數(shù)設(shè)計(jì)與優(yōu)化并做到認(rèn)證至量產(chǎn)。 在所有的元器件中盡量選
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真空度測(cè)試儀如何使用

  • 真空度測(cè)試儀是一種常用的儀器,產(chǎn)品的設(shè)計(jì)一改以往采用峰值做標(biāo)定的方法,而采用離子電荷來(lái)做標(biāo)定。用戶應(yīng)該如何使用真空度儀呢?下面EEWORLD小編就來(lái)
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輻射測(cè)試儀器使用方法

  • 輻射測(cè)試儀器一般有三個(gè)調(diào)頻,低頻、中頻、高頻,它是根據(jù)不同的電磁輻射環(huán)境和電磁電器來(lái)使用,我們最長(zhǎng)使用的是低頻。低頻針對(duì)我們常用的電器和,如
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邏輯分析儀的使用方法?邏輯分析儀和示波器有什么區(qū)別

  • 什么是邏輯分析儀?邏輯分析儀是分析數(shù)字系統(tǒng)邏輯關(guān)系的儀器。邏輯分析儀是屬于數(shù)據(jù)域測(cè)試[2]儀器中的一種總線分析儀,即以總線(多線)概念為基礎(chǔ),同時(shí)
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詳解逆變器電路工作原理

  • 逆變器,別稱為變流器、反流器,是一種可將直流電轉(zhuǎn)換為交流電的器件,由逆變橋、邏輯控制、濾波電路三大部分組成。它主要包括輸入接口、電壓?jiǎn)?dòng)回路
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淺析溶液浸入工藝制備全固態(tài)鋰離子電池

  • 隨著鋰離子電池技術(shù)的不斷發(fā)展,對(duì)能量密度的追求也越來(lái)越高,在國(guó)家最新公布的的指導(dǎo)方針中提出,到2020年,動(dòng)力電池的單體比能量要達(dá)到300Wh/kg,這
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測(cè)量的不確定度概念

  • 1、什么是測(cè)量?1)測(cè)量告知我們關(guān)于某物的屬性。測(cè)量總是用某種儀器來(lái)實(shí)現(xiàn)的。2)測(cè)量結(jié)果:通常兩部分組成:一個(gè)數(shù)和一個(gè)測(cè)量單位。2、什么是測(cè)量不確定
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開(kāi)關(guān)電源32個(gè)測(cè)試項(xiàng)(二)

  • 10.下降時(shí)間測(cè)試一、目的:測(cè)試S.M.P.S. POWER ON時(shí),各組輸出從90% ~ 10% POINT之下降時(shí)間(常規(guī)定義ge;5mS);二.使用儀器設(shè)備:(1). AC SOURCE /交流電源
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測(cè)試介紹

  中文名稱:   測(cè)試   英文名稱:   test   定義1:   對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。   應(yīng)用學(xué)科:   航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)   定義2:   用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。   應(yīng)用學(xué)科:   通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科) [ 查看詳細(xì) ]
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