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測(cè)試
測(cè)試 文章 進(jìn)入測(cè)試技術(shù)社區(qū)
FPGA開發(fā)流程:詳述每一環(huán)節(jié)的物理含義和實(shí)現(xiàn)目標(biāo)
- 要知道,要把一件事情做好,不管是做哪們技術(shù)還是辦什么手續(xù),明白這個(gè)事情的流程非常關(guān)鍵,它決定了這件事情的順利進(jìn)行與否。同樣,我們學(xué)習(xí)FPGA開發(fā)
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試
陶瓷電容器在高溫下的應(yīng)用
- 引言Knowles公司Syfer品牌的電容應(yīng)用溫度區(qū)間為-55℃到+150℃,如下表所示: 一些汽車電子或工業(yè)應(yīng)用常常會(huì)提出嚴(yán)格的溫度需求,特別是高達(dá)200℃的應(yīng)
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試
一款高性能低功耗數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)詳解
- 電路功能與優(yōu)勢(shì)越來(lái)越多的應(yīng)用要求數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)必須在極高環(huán)境溫度下可靠地工作,例如井下油氣鉆探、航空和汽車應(yīng)用等。圖1所示電路是一個(gè)16位、600 k
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試 轉(zhuǎn)換器
磁阻角度和線性位置測(cè)量
- PCB布局考慮CN-0368系統(tǒng)的PCB采用4層板堆疊而成,具有較大面積的接地層和電源層多邊形。在任何注重精度的電路中,必須仔細(xì)考慮電路板上的電源和接地回
- 關(guān)鍵字: 測(cè)試
測(cè)試介紹
中文名稱:
測(cè)試
英文名稱:
test
定義1:
對(duì)在受控條件下運(yùn)動(dòng)的裝備,進(jìn)行其功能和性能的檢測(cè)。
應(yīng)用學(xué)科:
航空科技(一級(jí)學(xué)科);航空器維修工程(二級(jí)學(xué)科)
定義2:
用任何一種可能采取的方法進(jìn)行的直接實(shí)際實(shí)驗(yàn)。
應(yīng)用學(xué)科:
通信科技(一級(jí)學(xué)科);運(yùn)行、維護(hù)與管理(二級(jí)學(xué)科)
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