碳化硅MOSFET晶體管的特征
功率轉(zhuǎn)換電路中的晶體管的作用非常重要,為進(jìn)一步實現(xiàn)低損耗與應(yīng)用尺寸小型化,一直在進(jìn)行各種改良。SiC功率元器件半導(dǎo)體的優(yōu)勢前面已經(jīng)介紹過,如低損耗、高速開關(guān)、高溫工作等,顯而易見這些優(yōu)勢是非常有用的。
本文引用地址:http://m.ptau.cn/article/202203/432169.htmSiC-SBD的章節(jié)中也使用了類似的圖介紹了耐壓覆蓋范圍。本圖也同樣,通過與Si功率元器件的比較,來表示SiC-MOSFET的耐壓范圍。
目前SiC-MOSFET有用的范圍是耐壓600V以上、特別是1kV以上。關(guān)于優(yōu)勢,現(xiàn)將1kV以上的產(chǎn)品與當(dāng)前主流的Si-IGBT來比較一下看看。相對于IGBT,SiC-MOSFET降低了開關(guān)關(guān)斷時的損耗,實現(xiàn)了高頻率工作,有助于應(yīng)用的小型化。相對于同等耐壓的SJ-MOSFET(超級結(jié)MOSFET),導(dǎo)通電阻較小,可減少相同導(dǎo)通電阻的芯片面積,并顯著降低恢復(fù)損耗。
下表是600V~2000V耐壓的功率元器件的特征匯總。
雷達(dá)圖的RonA為單位面積的導(dǎo)通電阻(表示傳導(dǎo)時損耗的參數(shù)),BV為元器件耐壓,Err為恢復(fù)損耗,Eoff為關(guān)斷開關(guān)的損耗。SiC已經(jīng)很完美,在目前情況的比較中絕非高估。
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