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基于ARM和CPLD的橫機(jī)機(jī)頭電路測試系統(tǒng)

作者: 時(shí)間:2017-06-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

為解決電腦橫機(jī)機(jī)頭控制系統(tǒng)信號的測試可靠性問題,基于低成本、高效率的考慮,研究設(shè)計(jì)了機(jī)頭控制系統(tǒng)電路板的批量測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用TI公司的LM 3S5R31芯片作為系統(tǒng)的核心部分,通過進(jìn)行及輔助控制,使得系統(tǒng)功能靈活強(qiáng)大。將同一信號通路中的前后級元件信號進(jìn)行編碼,向待測板發(fā)送握手信號并使之發(fā)送反饋信號,該系統(tǒng)將反饋信號進(jìn)行采樣并在程序中比較計(jì)算,制作了實(shí)物并進(jìn)行了大量實(shí)驗(yàn)。研究結(jié)果表明,該測試系統(tǒng)可有效解決電腦橫機(jī)機(jī)頭控制系統(tǒng)的快速及定位問題。

基于ARM和的橫機(jī)機(jī)頭電路測試系統(tǒng).pdf

本文引用地址:http://m.ptau.cn/article/201706/348916.htm


關(guān)鍵詞: 故障測試 I/O擴(kuò)展 CPLD

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