高速數(shù)字電路封裝電源完整性分析
去耦電容數(shù)量的影響
本文引用地址:http://m.ptau.cn/article/201610/311828.htm由前面的結(jié)果知道,電容放在封裝上效果更好,所以對(duì)電容數(shù)量的探討,以在Pkg上為主。在前述Pkg+PCB的結(jié)構(gòu)上,Pkg上電容的放置方式如圖9,模擬結(jié)果如圖10。

圖9 封裝上電容的放置位置

圖10 電容數(shù)量對(duì)|S21|的影響
從測(cè)量結(jié)果可知,加4和8顆時(shí),在0~200Mhz,能有效壓低|S21|,但在400Mhz附近產(chǎn)生新的共振點(diǎn),而把之后的共振點(diǎn)往高頻移動(dòng)。當(dāng)加入12~52顆后,同樣壓低低頻|S21|,且把400Mhz附近的共振點(diǎn)大大消減,高頻共振點(diǎn)向高頻移動(dòng),且振幅大為縮減。
隨著電容數(shù)量增加,對(duì)噪聲的抑制更好,從4~8顆的300Mhz,提升到1.2Ghz(52顆),所以增加電容數(shù)量,有助于對(duì)提高電源的噪聲抑制能力。
去耦電容容值的影響
在Pkg和PCB的組合結(jié)構(gòu)上,放置不同容值的電容,模擬結(jié)果如圖11。
對(duì)加入100nF和100pF做比較,0~300Mhz間,100n大電容有較好的抑制效果;500~800Mhz,100p小電容有較好的效果;而加100n電容,會(huì)跟整個(gè)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)在400Mz產(chǎn)生共振;當(dāng)使用100n+100p,200~600Mhz,比單純使用100n和100p差,而更低頻或更高頻也沒有單一容值好;當(dāng)使用100n+1n+100p三種容值時(shí),產(chǎn)生了更多共振點(diǎn),在電子系統(tǒng)中要特別小心,如果電路產(chǎn)生的噪聲剛好在共振頻率點(diǎn),則噪聲被放大,對(duì)信號(hào)產(chǎn)生影響或輻射。
所以對(duì)電容容值的選擇,應(yīng)根據(jù)要抑制的頻段來決定,頻段決定后根據(jù)電容的共振點(diǎn)選擇電容,越低的電容ESL和ESR越好。

圖11 混合不同容值電容的模擬結(jié)果
板層厚度的影響
首先,固定PCB電源與地平面之間的距離為0.7mm,改變Pkg電源層厚度依次為1.6mm、0.8mm、0.4mm、0.15mm,結(jié)果如圖12所示;當(dāng)Pkg電源層厚度越來越高,第一個(gè)零點(diǎn)向低頻移動(dòng);從前面結(jié)論知道,2Ghz前的噪聲來自PCB,從結(jié)果來看PCB耦合上來的噪聲也變大了,而2Ghz以后主要受封裝影響,可以看到|S21|也隨厚度而變大,所以Pkg電源平面的厚度對(duì)S參數(shù)影響是很大的。
圖12 不同Pkg電源層厚度對(duì)|S21|的影響
評(píng)論