碳化硅產(chǎn)業(yè)鏈條核心:外延技術
碳化硅外延
碳化硅功率器件與傳統(tǒng)硅功率器件制作工藝不同,不能直接制作在碳化硅單晶材料上,必須在導通型單晶襯底上額外生長高質(zhì)量的外延材料,并在外延層上制造各類器件。
碳化硅一般采用PVT方法,溫度高達2000多度,且加工周期比較長,產(chǎn)出比較低,因而碳化硅襯底的成本是非常高的。 碳化硅外延過程和硅基本上差不多,在溫度設計以及設備的結構設計不太一樣。 在器件制備方面,由于材料的特殊性,器件過程的加工和硅不同的是,采用了高溫的工藝,包括高溫離子注入、高溫氧化以及高溫退火工藝。
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SiC外延片是SiC產(chǎn)業(yè)鏈條核心的中間環(huán)節(jié)
碳化硅材料的特性從三個維度展開: 1.材料的性能,即物理性能:禁帶寬度大、飽和電子飄移速度高、存在高速二維電子氣、擊穿場強高。這些材料特性將會影響到后面器件的性能。 2. 器件性能:耐高溫、開關速度快、導通電阻低、耐高壓。優(yōu)于普通硅材料的特性。反映在電子電氣系統(tǒng)和器件產(chǎn)品中。 3. 系統(tǒng)性能:體積小、重量輕、高能效、驅(qū)動力強。 碳化硅的耐高壓能力是硅的10 倍,耐高溫能力是硅的2 倍,高頻能力是硅的2 倍;相同電氣參數(shù)產(chǎn)品,采用碳化硅材料可縮小體積50%,降低能量損耗80%。 這也是為什么半導體巨頭在碳化硅的研發(fā)上不斷加碼的原因:希望把器件體積做得越來越小、能量密度越來越大。 硅材料隨著電壓的升高,高頻性能和能量密度不斷在下降,和碳化硅、氮化鎵相比優(yōu)勢越來越小。 碳化硅主要運用在高壓環(huán)境,氮化鎵主要集中在中低壓的領域。造成兩者重點發(fā)展的方向有重疊、但各有各的路線。通常以650V 作為一個界限:650V以上通常是碳化硅材料的應用,650V 以下比如一些消費類電子上氮化鎵的優(yōu)勢更加明顯。 SiC外延片關鍵參數(shù) 碳化硅外延材料的最基本的參數(shù),也是最關鍵的參數(shù),就右下角黃色的這一塊,它的厚度和摻雜濃度均勻性。 我們所講外延的參數(shù)其實主要取決于器件的設計,比如說根據(jù)器件的電壓檔級的不同,外延的參數(shù)也不同。 一般低壓在600伏,我們需要的外延的厚度可能就是6個μm左右,中壓1200~1700,我們需要的厚度就是10~15個μm。高壓的話1萬伏以上,可能就需要100個μm以上。所以隨著電壓能力的增加,外延厚度隨之增加,高質(zhì)量外延片的制備也就非常難,尤其在高壓領域,尤其重要的就是缺陷的控制,其實也是非常大的一個挑戰(zhàn)。
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SiC外延片制備技術
1980年提出的臺階流生長模型
此對外延的發(fā)展、對外延的質(zhì)量都起到了非常重要的作用。它的出現(xiàn)首先是生長溫度,可以在相對低的溫度下實現(xiàn)生長,同時對于我們功率器件感興趣的4H晶型來說,可以實現(xiàn)非常穩(wěn)定的控制。
引入TCS,實現(xiàn)生長速率的提升
引入TCS可以實現(xiàn)生長速率達到傳統(tǒng)的生長速率10倍以上,它的引入不光是生產(chǎn)速率得到提升,同時也是質(zhì)量得到大大的控制,尤其是對于硅滴的控制,所以說對于厚膜外延生長來說是非常有利的。這個技術率先由LPE在14年實現(xiàn)商業(yè)化,在17年左右Aixtron對設備進行了升級改造,將這個技術移植到了商業(yè)的設備中。 碳化硅外延中的缺陷其實有很多,因為晶體的不同所以它的缺陷和其它一些晶體的也不太一樣。他的缺陷主要包括微管、三角形缺陷、表面的胡蘿卜缺陷,還有一些特有的如臺階聚集。 基本上很多缺陷都是從襯底中直接復制過來的,所以說襯底的質(zhì)量、加工的水平對于外延的生長來說,尤其是缺陷的控制是非常重要的。 碳化硅外延缺陷一般分為致命性和非致命性: 致命性缺陷像三角形缺陷,滴落物,對所有的器件類型都有影響,包括二極管,MOSFET,雙極性器件,影響最大的就是擊穿電壓,它可以使擊穿電壓減少20%,甚至跌到百分之90。 非致命性的缺陷比如說一些TSD和TED,對這個二極管可能就沒有影響,對MOS、雙極器件可能就有壽命的影響,或者有一些漏電的影響,最終會使器件的加工合格率受到影響。 控制碳化硅外延缺陷,方法一是謹慎選擇碳化硅襯底材料;二是設備選擇及國產(chǎn)化;三是工藝技術。
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碳化硅外延技術進展情況
在低、中壓領域,目前外延片核心參數(shù)厚度、摻雜濃度可以做到相對較優(yōu)的水平。但在高壓領域,目前外延片需要攻克的難關還很多,主要參數(shù)指標包括厚度、摻雜濃度的均勻性、三角缺陷等。 在中、低壓應用領域,碳化硅外延的技術相對是比較成熟的。 基本上可以滿足低中壓的SBD、JBS、MOS等器件的需求。如上是一個1200伏器件應用的10μm的外延片,它的厚度、摻雜濃度了都達到了一個非常優(yōu)的水平,而且表面缺陷也是非常好的,可以達到0.5平方以下。 在高壓領域外延的技術發(fā)展相對比較滯后,如上是2萬伏的器件上的200μm的一個碳化硅外延材料,它的均勻性、厚度和濃度相對于上述介紹的低壓差很多,尤其是摻雜濃度的均勻性。 同時,高壓器件需要的厚膜方面,目前的缺陷還是比較多的,尤其是三角形缺陷,缺陷多主要影響大電流的器件制備。大電流需要大的芯片面積。同時它的少子壽命目前也比較低。 在高壓方面的話,器件的類型趨向于使用于雙極器件,對少子壽命要求比較高,從右面這個圖我們可以看到,要達到一個理想的正向電流它的少子壽命至少要達到5μs以上,目前的外延片的少子壽命的參數(shù)大概在1~2個μs左右,所以說還對高壓器件的需求目前來說還沒法滿足,還需要后處理技術。
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SiC外延片制備設備情況
1、德國的Aixtron:特點是產(chǎn)能比較大; 2、意大利的LPE,屬于單片機,生長速率非常大。 3、日本的TEL和Nuflare,其設備的價格非常昂貴,其次是雙腔體,對提高產(chǎn)量有一定的作用。其中,Nuflare是最近幾年推出來的一個非常有特點的設備,其能高速旋轉(zhuǎn),可以達到一分鐘1000轉(zhuǎn),這對外延的均勻性是非常有利的。同時它的氣流方向不同于其他設備,是垂直向下的,所以它可以避免一些顆粒物的產(chǎn)生,減少滴落到片子上的概率。
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行業(yè)格局
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應用領域
來源:IN SEMI
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