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用M-LVDS實(shí)現(xiàn)真正多點(diǎn)接口總線

- 用M-LVDS實(shí)現(xiàn)真正多點(diǎn)接口總線,多年來,業(yè)界已開發(fā)出多種成熟的技術(shù)用于在背板總線上傳輸信號。隨著電信和數(shù)據(jù)通信業(yè)務(wù)量的不斷增長,數(shù)據(jù)傳輸速度的不斷提高,一些傳統(tǒng)的單端和發(fā)射極耦合邏輯技術(shù)的局限性越來越明顯。多點(diǎn)低電壓差分信號(M-LVDS)
- 關(guān)鍵字: 總線 接口 真正 實(shí)現(xiàn) M-LVDS
嵌入式測試為串行I/O提供真正的價(jià)值
- 嵌入式測試為串行I/O提供真正的價(jià)值,嵌入式系統(tǒng)中對串行I/O的采用將對如何組建設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)和采用什么工具產(chǎn)生影響。我堅(jiān)信針對這一技術(shù)的嵌入式測試的特殊應(yīng)用將為開發(fā)商帶來有價(jià)值的幫助。在高速串行領(lǐng)域及以外的其它領(lǐng)域許多其它的可能性都與這一概念相關(guān)。很顯然,隨著半導(dǎo)體技術(shù)在復(fù)雜度和功能以及速度等方面的不斷發(fā)展,嵌入式測試方案將為系統(tǒng)設(shè)計(jì)師探究系統(tǒng)提供真正的機(jī)會,不論是硬件還是軟件。
實(shí)現(xiàn)嵌入式測試要求一定的靈活度,以便將全新的測試拓?fù)浼軜?gòu)和新的測試方案整合到一起來實(shí)現(xiàn)跨度覆蓋到半導(dǎo)體制造商 - 關(guān)鍵字: 真正 價(jià)值 提供 I/O 測試 串行 嵌入式
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