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微納電容測量挑戰(zhàn):如何精準(zhǔn)測量fF級(jí)超低電容?

  • 典型的半導(dǎo)體電容在pF或nF范圍內(nèi)。許多商業(yè)上可用的LCR表或電容計(jì)補(bǔ)償后可以使用適當(dāng)?shù)臏y量技術(shù)來測量這些值,然而,一些應(yīng)用需要在飛秒法(fF)或1e-15范圍內(nèi)進(jìn)行非常靈敏的電容測量。這些應(yīng)用包括測量金屬到金屬的電容,晶片上的互連電容,MEMS器件,如:開關(guān),納米器件端子之間的電容。如果沒有使用適當(dāng)?shù)膬x器和測量技術(shù),這些非常小的電容很難進(jìn)行測量。使用4200A-SCS參數(shù)分析儀配備的4215-CVU(CVU),用戶能夠測量大范圍的電容,<1pF非常低的電容值也能測到。CVU采用獨(dú)特的電路設(shè)計(jì),并由
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發(fā)光二極管的限流電阻如何取值

  • 發(fā)光二極管主要部分也是一個(gè)PN結(jié),但是發(fā)光二極管導(dǎo)通后,其壓降一般都是2V左右,有的發(fā)光二極管的壓降可以達(dá)到3V。一般的普通二極管壓降也就0.5V左右,比如肖特基二極管。發(fā)光二極管一般用作指示燈。比如電源指示燈,通信指示燈,比如串口收發(fā)數(shù)據(jù)時(shí),通過發(fā)光二極管閃爍,來表示正在收發(fā)數(shù)據(jù)。在電路設(shè)計(jì)中,需要串聯(lián)一個(gè)限流電阻。這個(gè)限流電阻的大小如何取值?首先我們應(yīng)該知道發(fā)光二極管的正向電壓、正向電流。某一個(gè)發(fā)光二極管的正向電壓為2.5V,正向電流為5mA,這個(gè)正向電流有個(gè)取值范圍,電流太大,可能燒毀二極管,電流太
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使用示波器對三相電機(jī)驅(qū)動(dòng)器進(jìn)行測量

  • 本指南將介紹如何使用泰克8通道5系列B MSO示波器的逆變器、電機(jī)和驅(qū)動(dòng)器分析軟件對變頻驅(qū)動(dòng)器的輸入、直流母線和輸出進(jìn)行穩(wěn)定、準(zhǔn)確的電氣測量,以及對電機(jī)進(jìn)行機(jī)械測量。大多數(shù)現(xiàn)代電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)使用某種調(diào)制形式來控制電機(jī)頻率,從而控制電機(jī)速度。在大多數(shù)情況下,此類變頻驅(qū)動(dòng)器 (VFD) 通過輸出精心控制的脈沖寬度調(diào)制 (PWM)波形來實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)。此類系統(tǒng)通常以三相形式輸出功率,因?yàn)槿嗍请姍C(jī)的最佳配置。自電氣工程誕生以來,三相交流感應(yīng)電機(jī)(ACIM) 一直是工業(yè)領(lǐng)域的主力。它們可靠、高效、成本低且?guī)缀醪恍枰S護(hù)
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抖動(dòng)-示波器測量的最高境界

  • 抖動(dòng)話題是示波器測量的最高境界,也是最風(fēng)云變換的一個(gè)話題,這是因?yàn)槎秳?dòng)是示波器測量的諸多功能中最和“數(shù)學(xué)”相關(guān)的。 玩數(shù)學(xué)似乎是需要一定境界的。  1,抖動(dòng)和波形余輝的關(guān)系有一種比較傳統(tǒng)的測量抖動(dòng)的方法,就是利用余輝來查看信號(hào)邊沿的變化,然后再用光標(biāo)測量變化的大?。ㄈ鐖D1所示)。后來高端一點(diǎn)的示波器具有“余輝直方圖”的功能,利用余輝直方圖和相關(guān)參數(shù)可以自動(dòng)測量出信號(hào)邊沿變化的余輝的變化范圍。 在上個(gè)世紀(jì)90年代初示波器有了真正意義的“測量統(tǒng)計(jì)”功能之后,這個(gè)方法就逐漸被淘汰了。&n
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【對話前沿KOL】探析電子測試和測量行業(yè)發(fā)展趨勢

  • Boen提倡采用全面的協(xié)作方法來推進(jìn)AI/ML技術(shù),她認(rèn)為創(chuàng)新對于促進(jìn)社會(huì)進(jìn)步至關(guān)重要,可以改變我們的工作和生活方式。她的理由是,技術(shù)開發(fā)能夠促使該行業(yè)推出新的市場解決方案。泰克戰(zhàn)略技術(shù)和先進(jìn)集成電路 (AICS) 總監(jiān)Sarah Boen與Electronic Specifier對話,以下內(nèi)容為本文對話要點(diǎn)。測試和測量行業(yè)在過去十年中取得了巨大發(fā)展,目前有哪些關(guān)鍵變化正在改變行業(yè)格局?過去二十年,我有幸在測試和測量行業(yè)工作,我想說,該行業(yè)當(dāng)前充滿了巨大且振奮人心的變化。測試和測量行業(yè)過去提供通用解決方案
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MV.C機(jī)器視覺高光譜成像系統(tǒng)及其應(yīng)用

  • 高光譜成像技術(shù)是近些年來迅速發(fā)展起來的、一種全新的影像分析檢測技術(shù),它是集圖像傳感器、精密光學(xué),精密機(jī)械、計(jì)算機(jī)信息處理技術(shù)于一體的綜合性技術(shù)。在高光譜數(shù)據(jù)采集過程中,成像光譜儀以納米級(jí)的光譜分辨率,以幾十或幾百個(gè)波段對檢測目標(biāo)成像,形成海量數(shù)據(jù)的數(shù)字影像集(也稱數(shù)據(jù)立方體Data Cube),實(shí)現(xiàn)了目標(biāo)的光譜信息、空間信息及輻射信息的同步獲取,因而在目標(biāo)檢測和目標(biāo)識(shí)別領(lǐng)域具有巨大的應(yīng)用價(jià)值和廣闊的發(fā)展前景。高光譜成像相比傳統(tǒng)的影像技術(shù)有以下的優(yōu)點(diǎn)在相應(yīng)的光譜范圍內(nèi),具有上百個(gè)光譜通道的影像數(shù)據(jù),影像上每
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使用一種高度集成的 ToF 位置傳感器進(jìn)行精確的距離測量

  • 引言 在許多應(yīng)用中,無法通過實(shí)際接觸來測量與目標(biāo)之間的 距離。典型示例包括測量物流中心的傳送帶上是否存在 物體,確保與運(yùn)動(dòng)中的機(jī)械臂保持安全距離,確定倉庫 中人員或機(jī)器人相對于資產(chǎn)的位置。飛行時(shí)間 (ToF) 位 置傳感器有助于利用光線到達(dá)物體及返回所需的時(shí)間來 測量距離。OPT3101 是高速、高分辨率 AFE 的一個(gè) 典型示例,適用于完全集成且基于 ToF 的連續(xù)波位置 傳感器。該傳感器可在 15m 不模糊的范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn) 16 位距離輸出。有關(guān) OPT3101 的更多信息,請參
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Diodes 公司的高精度雙向電流顯示器能以較低的 BoM 成本達(dá)到精確測量的結(jié)果

  • Diodes 公司 (Diodes) (Nasdaq:DIOD) 今日宣布推出一系列采用高穩(wěn)定性零點(diǎn)漂移架構(gòu)的雙向電流顯示器。這些裝置能夠在廣泛的共模電壓范圍內(nèi)準(zhǔn)確測量極低感測電壓。主要產(chǎn)品應(yīng)用項(xiàng)目包括筆記本電腦、電池充電器、工業(yè)伺服裝置、服務(wù)器、服務(wù)器農(nóng)場中的電源機(jī)架和機(jī)器人系統(tǒng)。ZXCT199 系列電流顯示器裝置有六款產(chǎn)品可供選擇,每一款都有一個(gè)高精準(zhǔn)運(yùn)行的精密截波穩(wěn)定運(yùn)算放大器。其低補(bǔ)償電壓使得電流感應(yīng)在分流器上的最大壓降,低至 10mV 滿刻度。這么一來便能使用平價(jià)、低值的分流電阻器組件來測量大電
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從測量入手,判斷 AI 算法的潛力

  • 人工智能(AI)算法包含三個(gè)基本核心要素:1) 具備測量能力;2) 知道其中有多少測量需要進(jìn)一步處理;3) 并行處理多路輸入的能力。是德科技全球企業(yè)和產(chǎn)品營銷副總裁 Jeff Harris系統(tǒng)的潛力是指它的可測性以及可達(dá)到的測量深度,而潛力的發(fā)揮則指的是決定系統(tǒng)必須將哪些方面的測量結(jié)果發(fā)送給處理器進(jìn)一步處理。最后,傳感器融合指的是了解如何以正確的比例將不同傳感器的測量結(jié)果合并在一起,算法的智商有多高,推理的潛力有多大,這是我們探索的關(guān)鍵。通過反饋環(huán)路增強(qiáng)傳感器融合,算法將能夠校驗(yàn)和糾正自身的邏輯
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羅德與施瓦茨推出適合于單通道測向機(jī)的高性能測向和監(jiān)測一體化天線系統(tǒng)

  • 近日,羅德與施瓦茨宣布推出全新高性能 R&S ADD597 測向和監(jiān)測一體化天線系統(tǒng)。該系統(tǒng)是固定、移動(dòng)和可搬移式頻譜監(jiān)測站的關(guān)鍵組件。R&S ADD597結(jié)合使用單通道測向機(jī),即使在密集頻譜環(huán)境中也能提供可靠的測量結(jié)果。系統(tǒng)提供從 20 MHz 至 8.5 GHz(垂直極化)和 20 MHz 至7.5 GHz(水平極化) 頻率范圍的高精度測向能力。 R&S ADD597 具有高精度
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imc發(fā)布NVH聲學(xué)與振動(dòng)測量系統(tǒng)

  • 圖:新版imc WAVE 2022與imc CRONOSflex測量模塊,聯(lián)手提供性能卓越的NVH數(shù)據(jù)分析。 imc 測試測量面向全球用戶,發(fā)布其全新版 imc WAVE 2022 — 這是一款功能強(qiáng)大聲學(xué)與振動(dòng)的軟件,聯(lián)合性能卓越的imc數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),進(jìn)行符合標(biāo)準(zhǔn)的噪聲與振動(dòng)分析。imc WAVE 2022由四個(gè)可相互組合的分析儀組成,根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)提供聲功率評估、結(jié)構(gòu)分析、振動(dòng)和旋轉(zhuǎn)機(jī)械等綜合分析功能。軟件操作簡單,只需幾步就能指導(dǎo)用戶從配置、校準(zhǔn)、測量到專業(yè)報(bào)告,縮短設(shè)置時(shí)間,并快速、安全地為N
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用于檢測裸硅圓片上少量金屬污染物的互補(bǔ)性測量技術(shù)

  • I.?前言本文旨在解決硅襯底上的污染問題,將討論三種不同的金屬污染。第一個(gè)是鎳擴(kuò)散,又稱為快速擴(kuò)散物質(zhì)[1],它是從晶圓片邊緣上的一個(gè)污點(diǎn)開始擴(kuò)散的金屬污染。第二個(gè)是鉻污染,它是從Bulk體區(qū)內(nèi)部擴(kuò)散到初始氧化膜[2],并在晶圓片上形成了一層較厚的氧化物。第三個(gè)是晶圓片邊緣周圍的不銹鋼污染。本文的研究目的是根據(jù)金屬和圖1所示的污染特征找到污染的根源。圖1 三個(gè)金屬污染示例的映射圖。從左至右:鎳擴(kuò)散的微掩膜缺陷圖;較厚的鉻氧化沉積層;晶圓片邊緣上不銹鋼污染電子晶圓片檢測(EWS)映射圖AI.&nb
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蘋果LiDAR確實(shí)有測量功能 可進(jìn)行空間3D掃描

  • 激光雷達(dá)(LiDAR)通常指「檢測和測距」,是一種革命性的掃描和測量工具。但蘋果(Apple) 的激光雷達(dá)無法達(dá)到可用于戶外測量和掃描專業(yè)激光雷達(dá)的水平,不過可以測量到距離5米的周圍物體以及進(jìn)行人員位置的追蹤。光電協(xié)進(jìn)會(huì)(PIDA)認(rèn)為,激光雷達(dá)的深度感測與蘋果的景深攝鏡頭以及先進(jìn)的影像算法相結(jié)合,有可能在未來成為強(qiáng)大的掃描平臺(tái),而這些元素的緊密整合可為iPad Pro帶來了全新的AR體驗(yàn)。蘋果的LiDAR只要與Measurement App配合使用,將可進(jìn)行3D掃描、空間測量、物體辨識(shí)和分類,主要是針對
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無線水質(zhì)監(jiān)測系統(tǒng)

  • 簡介飲料生產(chǎn)、制藥廠、廢水處理廠等多個(gè)行業(yè)都依靠水質(zhì)監(jiān)測系統(tǒng)對重要水質(zhì)指標(biāo)進(jìn)行測量和控制。定義水的物理、化學(xué)和生物學(xué)特性的參數(shù)可作為水質(zhì)指標(biāo)。例如:◆? ?物理:溫度和濁度◆?? 化學(xué):pH值、氧化還原電位(ORP)、電導(dǎo)率和溶解氧◆?? 生物學(xué):藻類和細(xì)菌本文重點(diǎn)討論歷來不可或缺但不可靠而造成實(shí)施負(fù)擔(dān)的化學(xué)測量參數(shù)。電化學(xué)是化學(xué)的一個(gè)分支,通過測量電子從一種反應(yīng)物到另一種反應(yīng)物的轉(zhuǎn)移來表征還原-氧化反應(yīng)的行為。電化學(xué)技術(shù)可以直接或間接用于檢測和
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五種三極管測量方法分享

  • 在生活中具備諸多應(yīng)用,很多朋友對三極管測量存在一定困惑,無法在三極管測量方面取得相關(guān)進(jìn)展。本文將從五個(gè)方面對三極管測量經(jīng)驗(yàn)加以總結(jié),如果你對三極管測量方法具備一定興趣,不妨繼續(xù)往下閱讀正文哦。
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共1950條 1/130 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 » ›|

測量介紹

  測量的概念   所謂測量,是指用實(shí)驗(yàn)的方法,將被測量(未知量)與已知的標(biāo)準(zhǔn)量進(jìn)行比較,以得到被測量大小的過程;是對被測量定量認(rèn)識(shí)的過程。   測量的定義   1.早期的定義:研究地球的形狀和大小,確定地面點(diǎn)的坐標(biāo)的學(xué)科。   2.當(dāng)前的定義:研究三維空間中各種物體的形狀、大小、位置、方向和其分布的學(xué)科。   測量學(xué)的內(nèi)容包括測定和測設(shè)兩個(gè)部分。測定是指使用測量儀器和工具,通過測 [ 查看詳細(xì) ]

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