測(cè)試測(cè)量文章進(jìn)入測(cè)試測(cè)量技術(shù)社區(qū)

示波器探頭的作用及工作原理

示波器因?yàn)橛刑筋^的存在而擴(kuò)展了示波器的應(yīng)用范圍，使得示波器可以在線測(cè)試和分析被測(cè)電子電路，如下圖：示波器探頭的作用探頭的選擇和使用需要考慮如下兩個(gè)方面：其一：因?yàn)樘筋^有負(fù)載效應(yīng)，探頭會(huì)直接影響被測(cè)信號(hào)和被測(cè)電路；其二：探頭是整個(gè)示波器測(cè)量系統(tǒng)的一部分，會(huì)直接影響儀器的信號(hào)保真度和測(cè)試結(jié)果。01探頭的負(fù)載效應(yīng)當(dāng)探頭探測(cè)到被測(cè)電路后，探頭成為了被測(cè)電路的一部分。探頭的負(fù)載效應(yīng)包括下面3部分：阻性負(fù)載效應(yīng)；容性負(fù)載效應(yīng)；感性負(fù)載效應(yīng)。探頭的負(fù)載效應(yīng)阻性負(fù)載相當(dāng)于在被測(cè)電路上并聯(lián)了一個(gè)電阻，對(duì)被測(cè)信號(hào)有分壓的作用
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使用電流檢測(cè)電阻精確測(cè)量電流的設(shè)計(jì)技巧！原理、選型、設(shè)計(jì)都有

什么是電流檢測(cè)電阻？在許多通用電子應(yīng)用中，通常都需要電流感應(yīng)來(lái)監(jiān)控和控制應(yīng)用。例如：電池充電器電路需要電流感應(yīng)技術(shù)從驅(qū)動(dòng)器、控制器的角度確定充電電流。不同類型的電流傳感器具有不同的電流傳感技術(shù)，用來(lái)測(cè)量或者檢測(cè)電流。電流檢測(cè)最常用且最具成本效益的解決方案是分流電流傳感器，也就是檢測(cè)電阻。電流檢測(cè)電阻類似于普通電阻，但具有非常低的電阻額定值和高額定功率。這些具有已知電阻值 (R) 的分流電阻放置在電流傳導(dǎo)路徑中，可以讓要測(cè)量的全部電流 (I) 流過(guò)電阻。電流檢測(cè)電阻電流檢測(cè)電阻工作原理分流意味著為電路提供不
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拆個(gè)示波器無(wú)源探頭，看看里面到底有啥秘密

01哪根筋搭錯(cuò)了要去研究一下無(wú)源探頭一切都起源于一個(gè)問(wèn)題：能不能把1X的無(wú)源探頭當(dāng)同軸線去匹配50歐姆或者75歐姆的系統(tǒng)？有經(jīng)驗(yàn)的人會(huì)立刻回答不能，因?yàn)榫退闶?X的探頭上面也串接了一個(gè)不小的電阻。我手邊正好有一個(gè)報(bào)廢的探頭，拿萬(wàn)用表測(cè)了一測(cè)，內(nèi)芯的電阻有300多歐姆！外導(dǎo)體倒是正常的零點(diǎn)幾歐姆。這樣一條“同軸線”顯然不能拿去匹配50歐姆或者75歐姆的系統(tǒng)。問(wèn)題看起來(lái)是解決了，可這又加深了我對(duì)無(wú)源探頭的疑問(wèn)：?jiǎn)柺裁刺筋^上要串那么大的電阻，又為什么1X探頭的帶寬比10X探頭小那么多？02拆根探頭看看里面有啥要
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升維打擊！用示波器排查CAN的各種錯(cuò)誤幀

摘要：CAN的BusOff源于錯(cuò)誤幀的積累，而錯(cuò)誤幀這個(gè)東西，是一個(gè)接收節(jié)點(diǎn) 認(rèn)為數(shù)據(jù)有誤故意打斷通信，好讓發(fā)送節(jié)點(diǎn)感知到并重發(fā)報(bào)文的設(shè)計(jì)。注意這里邊有個(gè)“我覺得你有病”的認(rèn)知陷阱，讓CAN的診斷變得近似玄學(xué)。本文分享一種用CAN波形的幅度和脈寬信息來(lái)精確定位錯(cuò)誤幀來(lái)源的方法，來(lái)自知乎的大燈。我們先從基礎(chǔ)的講起。CAN節(jié)點(diǎn)的電路一般如下圖所示，MCU內(nèi)置了CAN控制器用來(lái)將MCU的數(shù)據(jù)封裝為CAN幀格式，同時(shí)它也負(fù)責(zé)CAN幀的校驗(yàn)和錯(cuò)誤幀的處理?？刂破鞣庋b好的邏輯報(bào)文經(jīng)TX RX送到CAN收發(fā)器，將邏
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如何用示波器測(cè)量串口波特率？

如何確定時(shí)基假如要測(cè)量的波特率為9600, 則每一比特位的時(shí)間為：1/9600 ≈ 104 μs，一般示波器橫向上每個(gè)大格子里5個(gè)小格子，要想看清一比特位一般需要一個(gè)小格子就夠了，則時(shí)基為：104 μs * 5 = 520 μs, 也就是說(shuō)時(shí)基要500 μs。注意：測(cè)量時(shí)選擇的耦合方式為直流，邊沿類型為下降沿，所測(cè)串口的電平為TTL 電平，該電平的串口在不傳輸數(shù)據(jù)時(shí)電平為高，靠拉低判斷起始位。下圖是測(cè)9600波特率，所發(fā)數(shù)據(jù)為0x55:所用示波器為漢泰的 IDSO1070。從光標(biāo)測(cè)量可以看出AB之間的時(shí)間
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分析一個(gè)電磁兼容，無(wú)非從這幾個(gè)方面入手

如何分析一個(gè)電磁兼容的問(wèn)題？分析一個(gè)電磁兼容的問(wèn)題需要從三個(gè)方面入手：騷擾源敏感源耦合路徑找到這三個(gè)因素后，再?zèng)Q定去掉哪一個(gè)。只要去掉一個(gè)，電磁兼容的問(wèn)題就解決了。例如，當(dāng)騷擾源是雷電，敏感源是電子線路時(shí)，我們能做的就是消除耦合路徑（因?yàn)闆]法去掉騷擾源，我們沒法讓自然界不產(chǎn)生雷電吧）。耦合路徑分為傳導(dǎo)耦合路徑和空間耦合路徑。最容易判斷的是電磁騷擾的敏感源，實(shí)際上大部分的電磁兼容的問(wèn)題都是先從發(fā)現(xiàn)干擾的現(xiàn)象起因的，因此，最先關(guān)注的應(yīng)該是敏感源。比較容易判斷的是電磁騷擾源，我們通過(guò)實(shí)驗(yàn)和分析，可以確定導(dǎo)致電磁
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關(guān)于EMC輻射發(fā)射整改一些心得體會(huì)

當(dāng)一個(gè)產(chǎn)品無(wú)法通過(guò)EMI 測(cè)試﹐首先就要有一個(gè)觀念﹐找出無(wú)法通過(guò)的問(wèn)題點(diǎn)﹐此時(shí)千萬(wàn)不能有主觀的念頭﹐要在那些地方下對(duì)策。常常有許多有經(jīng)驗(yàn)的 EMI 工程師﹐由于修改過(guò)許多相關(guān)產(chǎn)品﹐對(duì)于產(chǎn)品可能造成 EMI 問(wèn)題的地方也非常了解﹐而習(xí)慣直接就下藥方﹐當(dāng)然一般皆可能非常有效﹐但是偶而也會(huì)遇到很難修改下來(lái)﹐最后發(fā)現(xiàn)問(wèn)題的關(guān)鍵都是起行認(rèn)為不可能的地方﹐之所以會(huì)種疏失﹐就是由于太主觀了。因此﹐不論產(chǎn)品特性熟不熟﹐我們都要逐一再確認(rèn)一次﹐甚而多次確認(rèn)。這是因?yàn)樵斐蒃MI 的問(wèn)題往往是錯(cuò)綜復(fù)雜﹐并非單一點(diǎn)所造成。故反
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優(yōu)化簡(jiǎn)易PCB電路板的大規(guī)模測(cè)試，提高生產(chǎn)效率

摘要隨著各行業(yè)對(duì)高效完成大批量生產(chǎn)的需求日益增強(qiáng)，構(gòu)建穩(wěn)健的測(cè)試策略也變得至關(guān)重要。此篇是德科技署名文章旨在深入探討簡(jiǎn)易電路板生產(chǎn)制造領(lǐng)域中適用的創(chuàng)新測(cè)試方法，力求在保障質(zhì)量的前提下，實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)效率的最優(yōu)化。本文探討了制造商在PCBA（印刷電路板組件）電路板批量測(cè)試環(huán)節(jié)中所面臨的種種挑戰(zhàn)，并揭示了創(chuàng)新技術(shù)如何重塑電子制造業(yè)的格局。文章通過(guò)聚焦前沿測(cè)試方法、先進(jìn)測(cè)試裝備及經(jīng)過(guò)優(yōu)化的精簡(jiǎn)測(cè)試流程，系統(tǒng)闡述了促使PCBA測(cè)試?yán)砟罡镄碌暮诵囊亍Ｍㄟ^(guò)這些改進(jìn)，制造商有望提升測(cè)試效率、節(jié)約時(shí)間與成本、提高工作效率、提
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地線要短——測(cè)試開關(guān)電源紋波時(shí)

我們?cè)跍y(cè)試的時(shí)候，希望能夠測(cè)試準(zhǔn)確，不希望其他頻段的干擾引入導(dǎo)致測(cè)試數(shù)據(jù)異常。所以在用同軸電纜或者探頭測(cè)試紋波的時(shí)候，地線的處理都尤為關(guān)鍵，否則會(huì)通過(guò)地線引入不必要的噪聲。探頭的GND和信號(hào)兩個(gè)探測(cè)點(diǎn)的距離也非常重要，當(dāng)兩點(diǎn)相距較遠(yuǎn)，會(huì)有很多EMI噪聲輻射到探頭的信號(hào)回路中，示波器觀察的波形包括了其他信號(hào)分量，導(dǎo)致錯(cuò)誤的測(cè)試結(jié)果。所以要盡量減小探頭的信號(hào)與地的探測(cè)點(diǎn)間距，減小環(huán)路面積。為避免過(guò)多的噪聲耦合到紋波測(cè)試，應(yīng)用盡可能小的環(huán)路，避免耦合的噪聲過(guò)大。一般的示波器探頭不能直接使用，需用專用示波器探頭或
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一鍵開關(guān)機(jī)電路原理分析

買了一個(gè)元器件測(cè)試儀（又叫晶體管測(cè)試儀），型號(hào)GM328A：使用9V電池供電：電路板的背面：該元器件測(cè)試儀上用到一個(gè)“一鍵開關(guān)機(jī)電路”（又叫“單按鍵開關(guān)機(jī)電路”），簡(jiǎn)單實(shí)用，可以做到關(guān)機(jī)功耗為0，這是原理圖：原理圖和實(shí)物的對(duì)應(yīng)關(guān)系：注：原理圖中的MCU主控芯片U1，只畫出了和“一鍵開關(guān)機(jī)電路”相關(guān)的部分，其他不相關(guān)的部分沒有畫，比如U1的晶振電路就沒有畫。后面來(lái)分析這個(gè)電路。一、元器件測(cè)試儀的功能介紹了解這個(gè)元器件測(cè)試儀的功能，可以幫助我們理解“一鍵開關(guān)機(jī)電路”在它上面的應(yīng)用。下面用幾個(gè)例子簡(jiǎn)單演示它的功
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從半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試撬動(dòng)更廣泛應(yīng)用場(chǎng)景，ADI多款創(chuàng)新方案樹立電子測(cè)試測(cè)量技術(shù)標(biāo)桿

“工欲善其事，必先利其器”?？茖W(xué)史上的許多重大突破，往往源于新的觀測(cè)手段和測(cè)量技術(shù)的進(jìn)步。在現(xiàn)代電子工業(yè)中，半導(dǎo)體器件作為核心組件，其性能和可靠性直接決定了最終產(chǎn)品的品質(zhì)和功能，對(duì)這些器件進(jìn)行精確全面的測(cè)試測(cè)量變得尤為重要。近日在行業(yè)重磅展會(huì)上，全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體公司ADI在現(xiàn)場(chǎng)帶來(lái)了儀器儀表應(yīng)用領(lǐng)域的一系列創(chuàng)新方案，如ADI儀器儀表事業(yè)部高級(jí)市場(chǎng)經(jīng)理姜海濤所表示，這些板卡級(jí)方案以高精度、小型化以及易于集成的優(yōu)勢(shì)，契合客戶痛點(diǎn)，是新時(shí)代電子測(cè)試測(cè)量的標(biāo)桿樣本。激增的市場(chǎng)，如何滿足半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試多樣化需求？
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測(cè)試測(cè)量行業(yè): 那些過(guò)百或近百年品牌，2024上半年都在忙什么？

在經(jīng)濟(jì)逐步回暖的大背景下，盡管挑戰(zhàn)不斷，但科技創(chuàng)新的腳步卻從未放緩。特別是在測(cè)試測(cè)量行業(yè)，2024年上半年可謂是一場(chǎng)技術(shù)革新的盛宴，處處洋溢著創(chuàng)新的活力和對(duì)未來(lái)的無(wú)限憧憬。細(xì)數(shù)這半年的亮點(diǎn)，從無(wú)線通信技術(shù)的飛速發(fā)展，到高速互聯(lián)帶來(lái)的數(shù)據(jù)傳輸革命，再到人工智能在各個(gè)領(lǐng)域的智能升級(jí)，以及新能源汽車和自動(dòng)駕駛技術(shù)的顯著進(jìn)步，每一項(xiàng)進(jìn)步都在為行業(yè)的明天描繪著更安全、更互聯(lián)、更智能、更高效的藍(lán)圖。這不僅是技術(shù)的突破，更是我們對(duì)未來(lái)智能世界的堅(jiān)定信念和熱切期盼。在2024上半年的技術(shù)革新中，測(cè)試測(cè)量行業(yè)一方面迎來(lái)前所
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一上電就炸，是我不會(huì)用示波器？

一、前言如何正確使用儀器儀表是每一位工程師必要的要求，特別是示波器，很多人都不注意隔離等限制，以至于發(fā)生炸探頭等事件，那么在使用示波器時(shí)有哪些不安全操作呢？二、不安全操作之浮地測(cè)量有些工程師會(huì)有這樣的一個(gè)習(xí)慣：當(dāng)要測(cè)量高壓信號(hào)時(shí)，習(xí)慣性的把電源插頭的保護(hù)地?cái)嚅_，使用普通無(wú)源探頭直接進(jìn)行高壓的浮地測(cè)量。實(shí)際上這么做還是有危害的。常見現(xiàn)象舉例：觸摸示波器外殼感覺到觸電檢查：1.示波器電源地是否人為斷開或接觸不良；2.換個(gè)插排；3.所在的大樓地未接好。原因：Y電容是跨接在電源的火線和地線，零線和地線的電容，如圖
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益萊儲(chǔ)參加Keysight World 2024盛會(huì)，攜手是德科技探索科技無(wú)限可能

2024年5月29日，中國(guó)北京 —— 全球領(lǐng)先的測(cè)試和測(cè)量技術(shù)解決方案提供商益萊儲(chǔ)/Electro Rent剛剛參加了備受矚目的Keysight World Tech Day 2024年度盛會(huì)，與是德科技一道助力行業(yè)科技創(chuàng)新，為客戶提供更經(jīng)濟(jì)、更靈活、更便捷的測(cè)試租賃解決方案和服務(wù)支持。
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輻射測(cè)試，一般垂直方向都比水平高，為什么呢？

經(jīng)常會(huì)有工程師、客戶、以及同事聊到測(cè)試輻射時(shí)，為什么大部分都是接收天線在垂直方向比較差，水平方向卻很好呢？很多客戶在測(cè)試時(shí)特別是開關(guān)電源客戶看一下水平方向的數(shù)據(jù)確認(rèn)沒有問(wèn)題后，直接無(wú)視水平測(cè)試數(shù)據(jù)，只測(cè)試雙錐對(duì)數(shù)周期天線垂直極化方向的數(shù)據(jù)就好。先就輻射測(cè)試的基本情況簡(jiǎn)述一下，在測(cè)試輻射時(shí)被測(cè)產(chǎn)品，放在一個(gè)屏蔽的暗室里面的轉(zhuǎn)臺(tái)上面的0.8m高絕緣桌子上面，此桌子可以360°旋轉(zhuǎn)。另外，在其待測(cè)試產(chǎn)品的另外一端3m或者10m處有一個(gè)可以上下1m~4m高度自由移動(dòng)并且可以在水平與垂直兩個(gè)方向自由切換天線極性的天
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測(cè)試測(cè)量介紹

電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號(hào)發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計(jì)、電源、臺(tái)式萬(wàn)用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐　　表、鉗表、功率表、LCR、IC測(cè)試儀、耐壓/絕緣測(cè)試儀…… 　　通信測(cè)試測(cè)量?jī)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬(wàn)用表、光源、光電話、光功率計(jì)、2M測(cè)試儀、協(xié)議分析儀、無(wú)線電綜合測(cè)試儀、數(shù)字電纜分析測(cè)試　　儀、電纜故障測(cè) [ 查看詳細(xì) ]