測(cè)試測(cè)量文章進(jìn)入測(cè)試測(cè)量技術(shù)社區(qū)

1987年，比爾.休利特退休并辭去惠普董事會(huì)副主席職務(wù)

　　1987年，比爾.休利特退休并辭去董事會(huì)副主席職務(wù)。
關(guān)鍵字： HP 測(cè)試測(cè)量

1985年，惠普在中國(guó)成立合資高科技公司

　　1985年，惠普在中國(guó)成立合資高科技公司。
關(guān)鍵字： Agilent 測(cè)試測(cè)量

1981年，惠普在中國(guó)建立代表處

　　1981年，惠普在中國(guó)建立代表處。
關(guān)鍵字： Agilent 測(cè)試測(cè)量

1979年，惠普開發(fā)的石英毛細(xì)柱簡(jiǎn)化了化學(xué)分析過(guò)程

　　1979年，惠普開發(fā)的石英毛細(xì)柱簡(jiǎn)化了化學(xué)分析過(guò)程，使之可以分析更多種化合物。
關(guān)鍵字： HP 測(cè)試測(cè)量化學(xué)分析

1979年，安捷倫推出用于化學(xué)分析的二極管陣列檢測(cè)器

　　1979年，新推出的用于化學(xué)分析的二極管陣列檢測(cè)器能迅速地同時(shí)測(cè)量多波長(zhǎng)光線。
關(guān)鍵字：安捷倫測(cè)試測(cè)量二極管陣列檢測(cè)器

1977年，約翰.楊出任惠普公司總裁

　　1977年，約翰.楊出任惠普公司總裁(1978年出任首席執(zhí)行官)。
關(guān)鍵字： HP 測(cè)試測(cè)量

1977年，惠普創(chuàng)始人Bill Hewlett和Dave Packard訪華與中國(guó)高層領(lǐng)導(dǎo)人建立了聯(lián)系

　　1977年，惠普創(chuàng)始人Bill Hewlett和Dave Packard訪華與中國(guó)高層領(lǐng)導(dǎo)人建立了聯(lián)系
關(guān)鍵字： Agilent 測(cè)試測(cè)量

1946年，美國(guó)吉時(shí)利儀器公司誕生

　　吉時(shí)利儀器公司由JosephF.Keithley創(chuàng)立于1946年在美國(guó)俄亥俄州克里夫蘭市的一家小工廠中。吉時(shí)利公司一直引領(lǐng)工業(yè)界并為工程師和科學(xué)家們提供電子測(cè)試、測(cè)量和數(shù)據(jù)采集方案上進(jìn)行革新和發(fā)展。Keithley先生領(lǐng)導(dǎo)的吉時(shí)利公司和經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師為測(cè)試和測(cè)量工業(yè)做出了巨大的貢獻(xiàn)，獲得過(guò)眾多的獎(jiǎng)項(xiàng)，產(chǎn)品被公認(rèn)為具備高質(zhì)量、高可靠性和出色的技術(shù)革新能力。
關(guān)鍵字： Keithley 測(cè)試測(cè)量

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測(cè)試測(cè)量介紹

電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號(hào)發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計(jì)、電源、臺(tái)式萬(wàn)用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐　　表、鉗表、功率表、LCR、IC測(cè)試儀、耐壓/絕緣測(cè)試儀…… 　　通信測(cè)試測(cè)量?jī)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬(wàn)用表、光源、光電話、光功率計(jì)、2M測(cè)試儀、協(xié)議分析儀、無(wú)線電綜合測(cè)試儀、數(shù)字電纜分析測(cè)試　　儀、電纜故障測(cè) [ 查看詳細(xì) ]