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TI將展示超高速USB 3.0傳輸芯片

作者: 時間:2009-05-18 來源:SEMI 收藏

  Texas Instruments將在近日在東京舉行的 Developers Conference上展示5Gbit/s傳輸測試芯片。據(jù)悉該技術可為新興的 3.0技術提高速度。

本文引用地址:http://m.ptau.cn/article/94409.htm

  該測試芯片專為 3.0設計,可在超過4米的USB 3.0傳輸線上驅(qū)動及接收信號,并保持數(shù)據(jù)的完整性。



關鍵詞: TI USB 接口

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