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科利登在IC China 2005展出高量產(chǎn)測試系統(tǒng)

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作者: 時(shí)間:2005-08-23 來源: 收藏

    2005年8月22日,來自中國北京的消息:系統(tǒng)公司 (納斯達(dá)克代碼:CMOS) 日前宣布將參展2005年 8月24號至26號在北京舉行的IC China 2005。該展會是半導(dǎo)體設(shè)備供應(yīng)商及電子行業(yè)的一個(gè)首要集會,它由中國半導(dǎo)體工業(yè)協(xié)會和中國貿(mào)促會電子信息行業(yè)分會(CCPIT-ECC)共同舉辦。

本文引用地址:http://m.ptau.cn/article/7752.htm

    為了滿足中國區(qū)域快速增長的低成本市場需求,將展出Sapphire家族的最新成員Sapphire D-10系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款創(chuàng)新的高產(chǎn)能多功能的圓片和封裝測試系統(tǒng),特別用于應(yīng)對微處理器,無線基帶,顯示驅(qū)動(dòng)控制器及低成本消費(fèi)類混合信號器件的低成本測試的需求。支持200Mbps的圓片測試,同時(shí)還支持高并行度的產(chǎn)品測試,Sapphire D-10非常適合支持中國半導(dǎo)體工業(yè)的快速發(fā)展。

    的首席執(zhí)行官Dave Ranhoff說:“隨著去年中國電子信息制造產(chǎn)業(yè)3203億美元的銷售總額,中國已經(jīng)成為全球最大的電子信息產(chǎn)品制造地之一。積極地參與和支持IC China這樣的展會和行業(yè)集會,是科利登公司對快速增長的中國半導(dǎo)體市場及本地客戶的承諾和義務(wù)之一。”
 
    除了Sapphire D-10系統(tǒng),科利登還將突出其非揮發(fā)性存儲器測試和汽車電子測試的解決方案,并會有三場技術(shù)論文報(bào)告――”閃存測試的復(fù)雜性”,”汽車電子測試的低成本解決方案”和”使用真正的模塊化高產(chǎn)能測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)來降低測試成本”。IC China 2005將在北京海淀展覽館舉行,科利登展臺號:3號館B10。



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