EDA與測(cè)試軟件連結(jié)而改善設(shè)計(jì)程序的方法，就是提供更豐富的測(cè)量功能?；旧希?a class="contentlabel" href="http://m.ptau.cn/news/listbylabel/label/EDA">EDA工具將透過(guò)行為模式（Behavioral Model）預(yù)測(cè)全新設(shè)計(jì)的行為。可惜的是，固定模式的設(shè)計(jì)均是透過(guò)測(cè)量準(zhǔn)則進(jìn)行檢驗(yàn)，與檢驗(yàn)最終產(chǎn)品所用的測(cè)量準(zhǔn)則大不相同，因此難以整合已模擬與已測(cè)量的資料。目前業(yè)界正朝向“從設(shè)計(jì)到測(cè)試共用單一工具鏈”的一條鞭方法，讓工程師可儘早將測(cè)量作業(yè)帶入設(shè)計(jì)流程。

　　明導(dǎo)國(guó)際（Mentor Graphics）副總裁兼系統(tǒng)層級(jí)工程部門(mén)經(jīng)理Serge Leef表示，在銜接EDA工具與測(cè)試軟件之后，工程師可于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)期間同時(shí)設(shè)計(jì)測(cè)試工作臺(tái)，并于設(shè)計(jì)程序中儘早獲得測(cè)試報(bào)告。由于工程師能同時(shí)進(jìn)行開(kāi)發(fā)與測(cè)試結(jié)果，而不是像以前必須依序完成作業(yè)，因此能大幅縮短設(shè)計(jì)周期。

　　先以行動(dòng)電話(huà)的多重模式射頻（RF）功率放大器（PA）為例，此類(lèi)元件的傳統(tǒng)設(shè)計(jì)方式，即使用如AWR Microwave Office的RF EDA工具。透過(guò)EDA環(huán)境，工程師可透過(guò)模擬作業(yè)而取得RF特性參數(shù)，如效率、增益、1dB壓縮點(diǎn)（Compression Point）等，但最終產(chǎn)品所必須滿(mǎn)足的RF測(cè)量準(zhǔn)則，卻又是專(zhuān)為行動(dòng)電話(huà)標(biāo)準(zhǔn)（如全球行動(dòng)通訊系統(tǒng)/增強(qiáng)數(shù)據(jù)率演進(jìn)（GSM/EDGE）、寬頻分碼多工 （WCDMA）、長(zhǎng)程演進(jìn)計(jì)畫(huà)（LTE））所建立。

　　在此之前，因?yàn)闇y(cè)量復(fù)雜度的不同，往往須實(shí)際測(cè)量DUT，才能透過(guò)衡量標(biāo)準(zhǔn)（如LTE錯(cuò)誤向量幅度（EVM）與鄰近通道洩漏比（ACLR））的“標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格”而取得測(cè)量資料。但現(xiàn)在由于EDA軟件與自動(dòng)化軟件可銜接，讓工程師可于模擬裝置上建構(gòu)EDA環(huán)境，進(jìn)而使用完整的測(cè)量演算法。也因?yàn)槿绱?，工程師在設(shè)計(jì)初期即可找出復(fù)雜產(chǎn)品或系統(tǒng)相關(guān)的問(wèn)題，亦等于縮短設(shè)計(jì)時(shí)間。