作為對設計失誤“零容忍”的半導體工廠,無論是在產(chǎn)品進入量產(chǎn)之前,還是在生產(chǎn)過程中,嚴格的實驗室驗證測試都不可或缺,直接關系到產(chǎn)品良率與品質(zhì)。

面對大量的項目、繁雜的流程、海量的數(shù)據(jù),要進一步提高效率,減少出錯率,LIMS實驗室信息管理系統(tǒng)是必不可少的配置。

半導體產(chǎn)品實驗檢測高度精細化,從提出需求到報告反饋,流程多、周期長、要求嚴,需要高效保證流程質(zhì)量控制,監(jiān)測記錄異常情況并跟蹤反饋,追本溯源。

在信息技術的深度應用背景下,傳統(tǒng)的實驗室管理手段痛點明顯,已成為制約實驗室效能提升的瓶頸。比如實驗任務繁雜、容易遺忘、調(diào)度困難;實驗流程進度不明、流轉緩慢、效率低下、實驗數(shù)據(jù)人工采集記錄、存在解析困難等問題。

格創(chuàng)東智LIMS基于實驗室管理體系,針對端對端業(yè)務流程及核心管理要素,構建半導體工廠實驗室管理平臺,有效提升半導體工廠實驗室,標準化、信息化、智能化、自動化管理水平,滿足實驗室高品質(zhì)的需求。

格創(chuàng)東智LIMS助力半導體企業(yè)實驗室提升管理效能

目前,格創(chuàng)東智LIMS半導體工廠實驗室管理解決方案,已應用于多個半導體工廠實驗室效益顯著。

案例一:格創(chuàng)東智為國內(nèi)某半導體客戶打造的LIMS系統(tǒng)包含委托申請、狀態(tài)查詢、任務指派、任務提醒、實驗報告及統(tǒng)計分析等功能。客戶可以及時查看實驗室管理指標數(shù)字化概況,覆蓋產(chǎn)品可靠度、設備管理、人員管理等指標。

案例二:格創(chuàng)東智構建包括全集團實驗委托、樣品檢測、數(shù)據(jù)采集和報告自動生成等實驗室管理全過程。實現(xiàn)系統(tǒng)數(shù)據(jù)全面拉通,包括實驗數(shù)據(jù)、設備數(shù)據(jù)、備品數(shù)據(jù)、設備故障數(shù)據(jù)等。

格創(chuàng)東智LIMS方案帶給半導體行業(yè)客戶的效益和價值顯著,實驗任務管理效率可提升5-8倍,實驗流程周期降低80%以上,實驗檔案查詢速度縮短至1分鐘以內(nèi),多維度統(tǒng)計分析最多需要5秒時間,問題及時閉環(huán)率提升80%以上,資源管理效率提升3-5倍,有效提升了實驗室管理效能。

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