前節(jié)討論的數(shù)據(jù)和讀取方式的時候，都是基于動態(tài)內(nèi)存的實際結構，從內(nèi)存單元矩陣行地址，列地址來分析的。實際應用過程中，內(nèi)存控制器總是把內(nèi)存單元矩陣映射成線性連續(xù)空間的。不同的芯片組會給出不同的映射方法。圖10是Intel BX 440芯片組的內(nèi)存行列地址映射(128 MB)。本測試系統(tǒng)測試的時候需要了解硬件的結構，才能有效的找出內(nèi)存潛在的缺陷。

測試系統(tǒng)基于嵌入式Linux操作系統(tǒng)，采用命令行方式運行，所有的輸入采用配置文件來設定。下面給出了一個配置文件的例子：


在正常和DRAM系統(tǒng)有故障的嵌入式系統(tǒng)下面分別得到了如圖11的檢測結果，從實驗中可以發(fā)現(xiàn)有故障的系統(tǒng)在測試過程中某些測試項目無法通過，根據(jù)具體的情況就可以大致判斷出故障的原因，這樣就給系統(tǒng)設計者指明了改善系統(tǒng)性能的方向。

5 結語
本文研究從動態(tài)內(nèi)存的失效模型出發(fā)，針對不同的部件可能發(fā)生的問題，設計了檢測用的數(shù)據(jù)和讀取方式，將它們組合起來進行測試，可以更有效地檢測動態(tài)內(nèi)存中潛在的缺陷，具有高的失效類型的覆蓋率。同時，動態(tài)內(nèi)存測試作為嵌入式Linux測試系統(tǒng)的一個子系統(tǒng)得到了國際計算機系統(tǒng)制造商富士通公司的認可。