引言

　　內(nèi)裝測試(BIT)是20世紀70年代美國在軍用測試領域提出的全新的技術概念，其目的在于改善裝備的維修性、測試性和自診斷能力，同時也使裝備系統(tǒng)的機動性和保障性得到很大改善。20世紀70年代以來，以航天航空等國防工業(yè)領域為代表，國內(nèi)在內(nèi)裝測試及自診斷技術方面，主要處于技術跟蹤和理論研究階段。進入20世紀90年代，火箭、衛(wèi)星、飛機等飛行器的測試設備研制開發(fā)基本上都是圍繞著VXI總線來進行。同時，在一些裝備系統(tǒng)內(nèi)部也出現(xiàn)了以自檢功能為表現(xiàn)形式的內(nèi)裝測試及自診斷技術的雛形[1]。本文擬將BIT技術應用在某型裝備控制系統(tǒng)中，它能對裝備控制系統(tǒng)實現(xiàn)設備數(shù)字化，可利用設備上計算機和相關信息接口來收集設備的工作信息，可對各功能模塊進行實時監(jiān)測，及時發(fā)現(xiàn)故障，將故障定位到現(xiàn)場可更換單元，快速指導維修人員進行換件維修。

　　內(nèi)裝測試關鍵技術

　　在裝備控制系統(tǒng)上實現(xiàn)內(nèi)裝測試及自診斷，應包括內(nèi)裝測試設備研制和自診斷方法研究及實現(xiàn)兩大部份。其中內(nèi)裝測試主要有兩個方面：一是在被測對象內(nèi)安裝測試裝置，從而在少用或不用外圍測試設備的情況下，完成裝備控制系統(tǒng)的性能測試;另一方面是在被測對象的系統(tǒng)設計時，對各部件進行自檢功能設計，使各部件具有自檢測試功能，在全系統(tǒng)測試時，綜合各部件自檢功能完成測試和信息采集;而自診斷技術則包含了故障特征提取、知識庫建立和推理機算法實現(xiàn)等內(nèi)容。具體實現(xiàn)時，首先將內(nèi)裝測試設備采集的信息通過通訊接口發(fā)送到地面的計算機，同時自診斷算法也在地面的計算機上實現(xiàn)。待兩方面技術成熟后，再將測試設備和診斷軟件全部內(nèi)裝在裝備控制系統(tǒng)內(nèi)部，這即是BIT技術，BIT技術消除了裝備控制系統(tǒng)地面測試時需要將設備上所有被測信號通過眾多的測試電纜引到地面來檢測的繁瑣，同時使地面測試設備變得不再龐大、復雜，同時縮短了裝備測試前的準備工作時間，滿足了操作人員對裝備快速響應的要求。隨著計算機技術的廣泛應用，數(shù)字化已經(jīng)是電子設備研制的方向。設備數(shù)字化以后，使得利用設備上計算機和相關信息接口來收集設備的工作信息成為可能。這樣既可以簡化測試設備及其與裝備的連接關系，同時又為實現(xiàn)內(nèi)裝測試及自診斷創(chuàng)造了條件。

　　由于設備空間的限制，內(nèi)裝測試和自診斷技術必須要實現(xiàn)設備的小型化，其中包括計算機系統(tǒng)小型化、多通道高精度A/D和D/A變換器小型化和通訊接口小型化等[2]。同時，為了實現(xiàn)完全意義上的內(nèi)裝測試和自診斷，必須解決內(nèi)裝激勵方法研究和內(nèi)裝激勵設備設計的關鍵技術;此外，為了解決傳統(tǒng)內(nèi)裝測試存在的故障不可復現(xiàn)、不能識別間歇故障等問題，必須解決大容量小型化內(nèi)裝存儲設備設計的關鍵技術;為了完成內(nèi)裝自診斷技術研究，必須解決故障知識庫建立的關鍵技術[3]。這幾項關鍵技術實現(xiàn)的好壞直接關系到內(nèi)裝測試及自診斷系統(tǒng)性能的好壞。本文將主要對硬件設計和故障知識庫設計進行詳細介紹。

　　BIT系統(tǒng)

　　內(nèi)裝測試及自診斷系統(tǒng)包括信號調(diào)理模塊、數(shù)據(jù)采集模塊、數(shù)據(jù)存儲模塊、故障診斷、自激勵模塊和通訊電纜輸出模塊六部分(見圖1)。模擬電壓采集中信號調(diào)理電路負責完成對信號的差分放大、濾波和限幅等調(diào)理工作。邏輯量、頻率量、時間量和脈沖量采集中的信號調(diào)理電路負責完成對信號的限幅和數(shù)據(jù)緩沖等調(diào)理工作。光電隔離主要是為了把所測量的信號和計算機相隔離，這樣可以確保數(shù)據(jù)采集的讀數(shù)不會受到接地電勢差或共模電壓的影響。數(shù)據(jù)存儲模塊主要用來存儲一些內(nèi)裝測試及自診斷系統(tǒng)的診斷信息，包括測量的數(shù)字信息、設備上的模擬量信息、開關量信息、頻率信息、脈沖信息、信號檢測的粗故障信息以及這些信息的相應編碼信息等功能。裝備控制系統(tǒng)自激勵模塊主要實現(xiàn)單片機系統(tǒng)對裝備上控制系統(tǒng)的信號自激勵，同時也可以使地面計算機通過通訊電纜實現(xiàn)地面對裝備的自激勵控制。RS232/485接口模塊可以實現(xiàn)上位機與PC機通訊。自檢模塊主要是實現(xiàn)系統(tǒng)的自檢功能，在設計上是使ADuC812的DA/AD通道形成回路，多余的DI/DO通道形成回路，從而對終端的模擬通道和數(shù)字通道的工作能力進行自測試。DS12C887時鐘芯片主要是給系統(tǒng)提供標準時間基準，對存儲到Flash中的數(shù)據(jù)添加時間項，對PCM信息流傳輸?shù)臄?shù)據(jù)提供時間戳。本系統(tǒng)微處理器模塊選用ADI公司的ADuC812單片機(高性能的8通道5ms轉(zhuǎn)換時間、12位A/D轉(zhuǎn)換器、2個12位DAC，10.5kB的閃存E2PROM，具有3個16位計數(shù)/定時器和32條可編程I/O接口的8051/8052微控制器，256字節(jié)的SRAM)[4]。