“狼的速度”?SiC功率半導體模塊動態(tài)測試挑戰(zhàn)及應對
眾所周知,碳化硅半導體帶隙寬,用于 MOSFET 中時,開關損耗極低,因此相較于普通的硅器件,可允許更高的開關頻率,被形象地稱之為“狼的速度”,而寬禁帶功率半導體器件測試,尤其是精準、全面、可靠的器件特性表征,對于器件本身的迭代以及各場景的應用都起著關鍵作用。
SiC MOSFET器件高頻開關特性對器件測試系統(tǒng)寄生電感控制、測試帶寬、連接方式等都提出了更高的挑戰(zhàn)。如何駕馭狼的速度,跨越“測不準”、“測不全”、“不可靠”這三座大山,始終是第三代半導體行業(yè)關注的熱點。
同時,與傳統(tǒng)的硅半導體相比,碳化硅半導體能夠在更高的溫度和更高的電壓下工作。SiC 功率半導體具有關鍵的效率特性,能夠降低成本,同時提高多種應用中的系統(tǒng)性能,如電動汽車充電器、太陽能逆變器、電動汽車電機驅(qū)動器等,預計其使用將呈指數(shù)級增長。
從碳化硅整個產(chǎn)業(yè)鏈來看,滿足下游終端客戶需求一方面是靠優(yōu)異的碳化硅芯片性能,但模塊封裝設計及系統(tǒng)應用也尤為重要。作為國內(nèi)碳化硅領域的先行者之一,忱芯科技已經(jīng)研發(fā)出多款全碳化硅MOSFET模塊,SiC MOSFET模塊可以作為電力系統(tǒng)的主開關,更好地發(fā)揮SiC低損耗的特點,相較于SBD模塊其應用范圍更廣且技術壁壘更高。
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