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內存狂跌引發(fā)質量嚴重下滑 不良率數(shù)倍提升
- “憑良心來講,現(xiàn)在內存的品質整體來說真的很差?!蹦称放苾却娴囊晃桓吖芟騊Conline產(chǎn)業(yè)資訊這樣透露。 根據(jù)相關人士透露,內存晶元的測試,是晶元廠要另外要付費給專門的測試廠商。按照業(yè)界的概況,DDR2的顆粒一般好一點的原廠要測試800秒,普通的廠商是測試400秒。一般來說,原廠的品牌顆粒不太敢完全不測試,多少會測一下。但是現(xiàn)在測試時間變成了200秒或者100秒,甚至有些廠商只測50秒。 一般來說,如果經(jīng)過800秒完全測試,內存顆粒的不良率可以低于500PPM(注1),非常的低。當測試時間從800秒
- 關鍵字: 不良率 內存 消費電子 質量 存儲器 消費電子
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