EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
ni connect
ni connect 文章 進(jìn)入ni connect技術(shù)社區(qū)
PXI技術(shù)最新發(fā)展與應(yīng)用

- 過去十五年以來,自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域出現(xiàn)了一些明顯的趨勢(shì):從設(shè)計(jì)到生產(chǎn)的每個(gè)階段,自動(dòng)化程度越來越高;單一的待測(cè)設(shè)備往往集成了多種的標(biāo)準(zhǔn)和協(xié)議;從商業(yè)角度考慮,縮短產(chǎn)品投放市場(chǎng)時(shí)間的壓力也與日俱增;與此同時(shí),著眼于整個(gè)經(jīng)濟(jì)環(huán)境的大背景下,各個(gè)企業(yè)也都面臨著更加嚴(yán)峻的成本控制要求;此外,對(duì)制造業(yè)的自動(dòng)化測(cè)試而言,測(cè)試設(shè)備的體積和功耗已經(jīng)無法再隨著測(cè)試需求線形增長(zhǎng)。
- 關(guān)鍵字: NI PXI
NI PXIe-5667接收器測(cè)量性能可應(yīng)對(duì)頻譜監(jiān)測(cè)和信號(hào)監(jiān)控難題
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日發(fā)布NI PXIe-5667頻譜監(jiān)測(cè)接收器 ,可用于無線電監(jiān)測(cè)、干擾檢測(cè)、頻譜規(guī)則以及ITU推薦的相關(guān)應(yīng)用。
- 關(guān)鍵字: NI PXIe-5667 頻譜監(jiān)測(cè)
NI miniSystems促進(jìn)實(shí)踐性教育的發(fā)展

- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日推出了NI miniSystems,它是一些真實(shí)系統(tǒng)的微型版本,例如測(cè)功機(jī)和智能電網(wǎng),由NI與教育界的領(lǐng)先供應(yīng)商聯(lián)合開發(fā)。當(dāng)學(xué)生開始進(jìn)修工程學(xué)位時(shí),NI miniSystems可以幫助學(xué)生快速具象地了解數(shù)學(xué)和科學(xué)的理論知識(shí)。
- 關(guān)鍵字: NI miniSystems 測(cè)功機(jī)
NI 圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)平臺(tái)助力2012 中國(guó)機(jī)器人大賽

- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)攜手上海交通大學(xué)于2012年12月1日到2日共同舉行2012中國(guó)機(jī)器人大賽暨RoboCup公開賽(上海賽區(qū))籃球機(jī)器人比賽。來自全國(guó)各地9所高校的9支隊(duì)伍、共50余名參賽隊(duì)員代表參加了此次比賽,圍繞籃球機(jī)器人1大項(xiàng)3小項(xiàng)項(xiàng)目展開競(jìng)技。
- 關(guān)鍵字: NI 圖形化系統(tǒng) 機(jī)器人
NI推出6款用于NI CompactRIO及NI CompactDAQ平臺(tái)的I/O模塊
- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱 NI)近日針對(duì)NI CompactRIO嵌入式控制系統(tǒng) 和 NI CompactDAQ模塊化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)推出了6款全新的C系列模塊。通過擴(kuò)展C系列平臺(tái), NI為工程師和科學(xué)家提供全新升級(jí)的用于廣泛嵌入式控制、監(jiān)測(cè)和數(shù)據(jù)采集的各種選項(xiàng)。
- 關(guān)鍵字: NI 測(cè)量平臺(tái) 嵌入式
使用LabVIEW、PXI、DAQ和DIAdem搭建聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測(cè)系統(tǒng)

- “我們使用NI LabVIEW軟件和NI PXI數(shù)據(jù)采集硬件開發(fā)聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測(cè)系統(tǒng)來采集、處理所有的相關(guān)板載數(shù)據(jù),并使用NI DIAdem搭建了一個(gè)后處理系統(tǒng)。”
- 關(guān)鍵字: NI 監(jiān)測(cè)系統(tǒng) LabVIEW
NI參加2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)

- 美國(guó)國(guó)家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測(cè)試技術(shù)研討會(huì)。NI在此研討會(huì)上發(fā)表了題為"重新定義移動(dòng)通信測(cè)試——從研發(fā)驗(yàn)證到制造測(cè)試"的精彩演講,演講人NI中國(guó)無線通信行業(yè)市場(chǎng)經(jīng)理湯敏被評(píng)為"企業(yè)演講最佳演講人"。
- 關(guān)鍵字: NI TD-LTE 通信
ni connect介紹
您好,目前還沒有人創(chuàng)建詞條ni connect!
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)ni connect的理解,并與今后在此搜索ni connect的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條,闡述對(duì)ni connect的理解,并與今后在此搜索ni connect的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案:1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
