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PROTEL DXP如何創(chuàng)建原理圖器件（二）

  • 添加電路仿真模型電路仿真用的SPICE 模型文件（.ckt and .mdl）存放在AltiumLibrary路徑里的集成庫(kù)文件中。如果你希望在你的設(shè)計(jì)上進(jìn)行電路仿真分析，你就需要加入這些模型。如果你要將這些仿真模型用到你的庫(kù)元件中
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PROTEL DXP如何創(chuàng)建原理圖器件（一）

  • 介紹了使用PROTEL DXP 的庫(kù)編輯器創(chuàng)建原理圖器件和PCB 封裝。這個(gè)指南假設(shè)你能理解如何在原理圖及PCB 環(huán)境中工作并且具有擺放及編輯器件的能力。你可以在AltiumExamples utorials 路徑中找到指南中的例子中使用到的器
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功率邏輯器件在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用分析

  • 嵌入式可編程控制器及其I/O模塊為較合理地解決目前可編程邏輯控制器.html target=_blank>控制器自身的軟硬件分配，以及與上位機(jī)通信協(xié)調(diào)工作中存在的問(wèn)題，結(jié)合外掛式和虛擬式的優(yōu)點(diǎn)，本文基于ISA總線技術(shù)自行開(kāi)發(fā)
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存儲(chǔ)器件軟誤差解決方案

  • 軟誤差是半導(dǎo)體器件中無(wú)法有意再生的“干擾”（即數(shù)據(jù)丟失）。它是由那些不受設(shè)計(jì)師控制的外部因素所引起的，包括alpha;粒子、宇宙射線和熱中子。許多系統(tǒng)能夠容忍一定程度的軟誤差。例如，如果為音頻、視
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基于VHDL語(yǔ)言對(duì)高速A/D器件TLC5510控制的實(shí)現(xiàn)

  • 基于VHDL語(yǔ)言對(duì)高速A/D器件TLC5510控制的實(shí)現(xiàn),--TLC5510 VHDL控制程序　　--文件名：TLC5510.vhd　　--功能：基于VHDL語(yǔ)言，實(shí)現(xiàn)對(duì)高速A/D器件TLC5510控制　　--最后修改日期：2004.3.20　　library ieee;　　use ieee.std_logic_1164.all;　　entity tlc5510 is
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低功耗器件的“設(shè)計(jì)時(shí)測(cè)試”方法

  • 在65nm制造工藝條件下，依靠電池供電的器件正在大量出現(xiàn)。這種先進(jìn)的工藝技術(shù)使得新器件較前代工藝的同類(lèi)器件具有很多改進(jìn)。采用65nm工藝之后，設(shè)計(jì)人員可以在一塊單獨(dú)的裸片上集成遠(yuǎn)多于過(guò)去的晶體管，還可以在器件
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飛兆新近擴(kuò)展重啟定時(shí)器產(chǎn)品系列

  • 隨著技術(shù)的發(fā)展，消費(fèi)者越來(lái)越多地利用便攜設(shè)備處理業(yè)務(wù)和私人事務(wù)。由于這些便攜設(shè)備中構(gòu)建了眾多的基礎(chǔ)架構(gòu)系統(tǒng)，擁有能夠快速解決系統(tǒng)鎖死的簡(jiǎn)單方案是至關(guān)重要的。飛兆半導(dǎo)體公司(Fairchild Semiconductor)新近擴(kuò)展重啟定時(shí)器產(chǎn)品系列，能夠?yàn)楸銛y設(shè)備鎖死問(wèn)題提供更好的解決方案。
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ESD保護(hù)手機(jī)器件pcb設(shè)計(jì)

  • 目前普遍接受的關(guān)鍵ESD保護(hù)電壓水平約為500V。在這一水平，芯片成本增加得較合理，良率水平也不會(huì)受到損害。這是因?yàn)榈湫偷木A廠和裝配車(chē)間有將ESD限制在500V或以下的政策。目前業(yè)內(nèi)最常見(jiàn)的板級(jí)ESD保護(hù)器件主要有以
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LED芯片/器件封裝缺陷的非接觸檢測(cè)技術(shù)

  • 摘要：為了在大批量封裝生產(chǎn)線上對(duì)LED的封裝質(zhì)量進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)，利用LED具有與PD類(lèi)似的光伏效應(yīng)的特點(diǎn)，導(dǎo)出了LED芯片/器件封裝質(zhì)量與光生電流之間的關(guān)系，并根據(jù)LED封裝工藝過(guò)程的特點(diǎn)，研制了LED封裝質(zhì)量非接觸檢測(cè)
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基于集成芯片MC34152和CMOS邏輯器件的軟開(kāi)關(guān)變換器驅(qū)動(dòng)電路設(shè)計(jì)

  • 在高頻PWM開(kāi)關(guān)變換器中，為保證功率MOSFET在高頻、高壓、大電流下工作，要設(shè)計(jì)可靠的柵極驅(qū)動(dòng)電路。一個(gè)性能良好的驅(qū)動(dòng)電路要求觸發(fā)脈沖應(yīng)具有足夠快的上升和下降速度，脈沖前后沿要陡峭；驅(qū)動(dòng)源的內(nèi)阻要足夠小、電流
  • 關(guān)鍵字： 開(kāi)關(guān)  變換器  驅(qū)動(dòng)  電路設(shè)計(jì)  器件  邏輯  集成  芯片  MC34152  

Microsemi推出系統(tǒng)管理設(shè)計(jì)工具

  • 致力于提供幫助功率管理、安全、可靠與高性能半導(dǎo)體技術(shù)產(chǎn)品的領(lǐng)先供應(yīng)商美高森美公司(Microsemi Corporation，紐約納斯達(dá)克交易所代號(hào)：MSCC) 推出一套用于高可用性有線和無(wú)線通信基礎(chǔ)設(shè)施設(shè)備的系統(tǒng)與功率管理設(shè)計(jì)工具。新設(shè)計(jì)工具包括美高森美混合信號(hào)功率管理工具(Mixed Signal Power Manager，MPM) 4.0參考設(shè)計(jì)，支持多達(dá)64個(gè)電源軌和混合模擬與數(shù)字負(fù)載點(diǎn)(point-of-loads，POL)，以及基于PMBus?的通信。美高森美還提供了可用于Microsemi
  • 關(guān)鍵字： 美高森美  器件  MPM 4.0  

選用磁性器件中磁芯的設(shè)計(jì)原理

  • 開(kāi)關(guān)電源中使用的磁性器件較多，其中常用的軟磁器件有：作為開(kāi)關(guān)電源核心器件的主變壓器(高頻功率變壓器)、共模扼流圈、高頻磁放大器、濾波阻流圈、尖峰信號(hào)抑制器等。不同的器件對(duì)材料的性能要求各不相同，如表所示
  • 關(guān)鍵字： 原理  設(shè)計(jì)  器件  磁性  選用  

針對(duì)未來(lái)十年 “All Programmable”器件的顛覆之作

  • 歷經(jīng)四年的開(kāi)發(fā)和一年的試用版本測(cè)試，賽靈思可編程顛覆之作 Vivado 設(shè)計(jì)套件終于震撼登場(chǎng)，并通過(guò)其早期試用計(jì)劃開(kāi)始向客戶隆重推出。新的工具套件面向未來(lái)十年 “All Programmable”器件而精心打造， 致力于加速其設(shè)計(jì)生產(chǎn)力。
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細(xì)述汽車(chē)系統(tǒng)選擇智能功率器件的五個(gè)理由

  • 在傳統(tǒng)的汽車(chē)應(yīng)用中，由于對(duì)車(chē)內(nèi)電路較高的安全性能要求，帶有保險(xiǎn)絲保護(hù)的電子機(jī)械式開(kāi)關(guān)在高負(fù)載應(yīng)用中一直被廣為采用。然而，這種系統(tǒng)解決方案也有一定的局限性。機(jī)械式繼電器在長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)作時(shí)容易磨損和發(fā)生接觸差
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通過(guò)設(shè)計(jì)、校準(zhǔn)固件改善器件的S參數(shù)測(cè)量

  • 本篇應(yīng)用筆記描述了在測(cè)量元器件S參數(shù)時(shí)，如何校正和減小由測(cè)試固件引起的誤差。這里提到的固件由帶有SMA連接器的微帶線PCB組成。文中給出了基于MAX2648 5GHz低噪聲放大器的實(shí)例。測(cè)量誤差矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)測(cè)量中
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lora?器件介紹

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