- 本論文討論了Qorvo公司針對高性能微波GaN HEMT器件和MMIC采用的基于建模、實證測量(包括微區(qū)拉曼熱成像)和有限元分析(FEA)的綜合熱設計方法,該方法極為有效,且經過實證檢驗。通過適當解決FEA的邊界條件假設和紅外顯微鏡的局限問題,無論在產品還是最終應用層面上,所得到的模型計算結果都比基于較低功率密度技術的傳統(tǒng)方法的精度更高。
- 關鍵字:
熱建模 熱分析 芯片貼裝方法 Qorvo公司 201601
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