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原子級(jí)工藝實(shí)現(xiàn)納米級(jí)圖形結(jié)構(gòu)的要求
- 原子層刻蝕和沉積工藝?yán)米韵扌苑磻?yīng)，提供原子級(jí)控制。泛林集團(tuán)先進(jìn)技術(shù)發(fā)展事業(yè)部公司副總裁潘陽(yáng)博士?分享了他對(duì)這個(gè)話(huà)題的看法。圖 1.?原子層工藝中的所有半周期反應(yīng)是自限性反應(yīng)。技術(shù)節(jié)點(diǎn)的每次進(jìn)步都要求對(duì)制造工藝變化進(jìn)行更嚴(yán)格的控制。最先進(jìn)的工藝現(xiàn)在可以達(dá)到僅7 nm的fin寬度，比30個(gè)硅原子稍大一點(diǎn)。半導(dǎo)體制造已經(jīng)跨越了從納米級(jí)到原子級(jí)工藝的門(mén)檻。工程師現(xiàn)在必須關(guān)注結(jié)構(gòu)的尺寸變化，僅相當(dāng)于幾個(gè)原子大小。由于多重圖案模式等復(fù)雜集成增加了工藝數(shù)量，進(jìn)一步限制了每個(gè)步驟允許的變化。3D N
- 關(guān)鍵字： ALE ALD CER EPE SAC CAR
高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換誤差率的解密
- 高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)存在一些固有限制，使其偶爾會(huì)在其正常功能以外產(chǎn)生罕見(jiàn)的轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤。但是，很多實(shí)際采樣系統(tǒng)不容許存在高ADC轉(zhuǎn)換誤差率。因此，量化高速模數(shù)轉(zhuǎn)換誤差率(CER)的頻率和幅度非常重要?！ 「咚倩騁SPS ADC(每秒千兆采樣ADC)相對(duì)稀疏出現(xiàn)的轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤不僅造成其難以檢測(cè)，而且還使測(cè)量過(guò)程非常耗時(shí)。該持續(xù)時(shí)間通常超出毫秒范圍，達(dá)到幾小時(shí)、幾天、幾周甚至是幾個(gè)月。為了幫助消減這一耗時(shí)測(cè)試負(fù)擔(dān)，可以在一定“置信度”的確定性情況下估算誤差率，而仍然保持結(jié)果的質(zhì)量。 誤碼率(BER
- 關(guān)鍵字： ADC CER
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cer介紹
目錄
1 CER
2 相關(guān)術(shù)語(yǔ)
3 數(shù)字證書(shū)的原理
4 數(shù)字證書(shū)
CER-CER
用于存儲(chǔ)公鑰證書(shū)的文件格式。
CER-相關(guān)術(shù)語(yǔ)
公鑰和私鑰就是俗稱(chēng)的不對(duì)稱(chēng)加密方式，是從以前的對(duì)稱(chēng)加密（使用用戶(hù)名與密碼）方式的提高。用電子郵件的方式說(shuō)明一下原理。
使用公鑰與私鑰的目的就是實(shí)現(xiàn)安全的電子郵件，必須實(shí)現(xiàn)如下目的：
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