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調(diào)試
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基于ARM開(kāi)發(fā)的JTAG仿真器的調(diào)試設(shè)計(jì)

- 基于ARM開(kāi)發(fā)的JTAG仿真器的調(diào)試設(shè)計(jì),基于JTAG仿真器的調(diào)試是目前ARM開(kāi)發(fā)中采用最多的一種方式。大多數(shù)ARM設(shè)計(jì)采用了片上JTAG接口,并將其作為測(cè)試、調(diào)試方法的重要組成。JTAG仿真器通過(guò)ARM芯片的JTAG邊界掃描口與ARM CPU核通信,實(shí)現(xiàn)了完全非插入式調(diào)試
- 關(guān)鍵字: 調(diào)試 設(shè)計(jì) 仿真器 JTAG ARM 開(kāi)發(fā) 基于
LED驅(qū)動(dòng)調(diào)試
- 1、芯片發(fā)熱 這主要針對(duì)內(nèi)置電源調(diào)制器的高壓驅(qū)動(dòng)芯片.假如芯片消耗的電流為2mA,300V的電壓加在芯片上面,芯片的功耗為0.6W,當(dāng)然會(huì)引起芯片的發(fā)熱.驅(qū)動(dòng)芯片的最大電流來(lái)自于驅(qū)動(dòng)功率mos管的消耗,簡(jiǎn)單的計(jì)算公式為
- 關(guān)鍵字: 調(diào)試 驅(qū)動(dòng) LED
應(yīng)對(duì)高級(jí)嵌入式處理器系統(tǒng)調(diào)試挑戰(zhàn)

- 應(yīng)對(duì)高級(jí)嵌入式處理器系統(tǒng)調(diào)試挑戰(zhàn), FPGA最大的優(yōu)點(diǎn)在于其靈活性,可激發(fā)設(shè)計(jì)人員創(chuàng)造出無(wú)數(shù)不同的設(shè)計(jì)。然而,設(shè)計(jì)調(diào)試通常最后才加以考慮――如果還加以考慮的話(huà),因此調(diào)試器通常要適應(yīng)系統(tǒng)的要求。
好消息是一家在嵌入式領(lǐng)域耕耘近30年的 - 關(guān)鍵字: 調(diào)試 挑戰(zhàn) 系統(tǒng) 處理器 高級(jí) 嵌入式 應(yīng)對(duì)
調(diào)試介紹
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