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萊迪思MachXO2 PLD系列現(xiàn)有小尺寸WLCSP封裝

- 2011年9月6日-萊迪思半導(dǎo)體公司(NASDAQ: LSCC)2011年9月6日宣布MachXO2 PLD系列的2.5mmx2.5mm 25球型晶圓級芯片尺寸封裝(WLCSP)的樣片現(xiàn)已發(fā)運。目前MachXO2器件結(jié)合了超小封裝尺寸——至今在PLD市場還未被超越——具有行業(yè)最低功耗和最豐富功能的低密度PLD。使用低功耗65nm工藝的嵌入式閃存技術(shù)構(gòu)建,MachXO2系列增加了3倍的邏輯密度,提高了10倍的嵌入式存儲器,并且與前代產(chǎn)品相比減少了100倍的靜態(tài)功耗。MachXO2器件具有業(yè)界最穩(wěn)定的PLD功
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萊迪思半導(dǎo)體推出Lattice Diamond 設(shè)計軟件

- 萊迪思半導(dǎo)體公司(NASDAQ: LSCC)宣布推出Lattice Diamond 設(shè)計軟件,針對萊迪思FPGA產(chǎn)品的旗艦設(shè)計環(huán)境。Lattice Diamond 1.3軟件的用戶將受益于主要的新功能,包括時鐘抖動分析?,F(xiàn)在Lattice Diamond 1.3軟件還集成了萊迪思的PAC- Designer 6.1混合信號設(shè)計工具,為萊迪思的可編程混合信號Platform Manager 器件提供設(shè)計支持。
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萊迪思推出MachXO2 PICO開發(fā)套件
- 萊迪思半導(dǎo)體公司今日宣布即可獲取新的29美元的MachXO2? Pico開發(fā)套件,可用于低功耗,空間受限的消費電子設(shè)計的樣機研制。采用嵌入式閃存技術(shù)的低功耗65納米工藝的MachXO2器件為低密度PLD設(shè)計人員提供了在單個器件中前所未有的低成本,低功耗和高系統(tǒng)集成的特性。這些器件是低功耗應(yīng)用的理想選擇,如智能手機、移動計算、GPS設(shè)備和數(shù)碼相機,以及在終端市場的控制PLD的應(yīng)用,如電信基礎(chǔ)設(shè)施、計算,高端產(chǎn)業(yè)和高端醫(yī)療設(shè)備。
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萊迪思和HELION TECHNOLOGY發(fā)布了適用于LatticeECP3 FPGA系列的壓縮和加密IP核
- 萊迪思半導(dǎo)體公司和Helion Technology今日宣布一系列適用于LatticeECP3 FPGA系列的壓縮和加密的IP核現(xiàn)已上市。該系列具有有效載荷壓縮系統(tǒng)核,提高了有限信道帶寬的利用率,因此非常適合微波回程應(yīng)用、寬帶無線接入適用于802.16e(WiMAX)以及潛在的其他多鏈路多輸入-多輸出(MIMO)應(yīng)用中的使用。在LatticeECP3器件中,IP核可以從500Mbps無縫擴(kuò)展至超過3Gbps,并可用于典型的網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用中的第2層或第3層。IP核采用了非常強大和成熟的LZRW無損壓縮算法,它
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萊迪思Platform Manager器件開始量產(chǎn)
- 萊迪思半導(dǎo)體公司(NASDAQ: LSCC)今天宣布,其屢獲殊榮的Platform Manager?系列產(chǎn)品完全合格并進(jìn)入量產(chǎn)階段。與此量產(chǎn)信息發(fā)布相配合的是更新的PAC-Designer? 6.0.1設(shè)計軟件,它使模擬和電路板設(shè)計師將電路板的電源管理和數(shù)字板的管理功能集成至Platform Manager器件系列。此外,現(xiàn)在即可獲取另外11個參考設(shè)計(包括風(fēng)扇控制器,邊界掃描端口連接器和GPIO擴(kuò)展器),這些都為使用Platform Manager產(chǎn)品而進(jìn)行了專門的測試。
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萊迪思今日發(fā)布改進(jìn)了綜合和功耗優(yōu)化的CPLD設(shè)計工具

- 萊迪思半導(dǎo)體公司今日發(fā)布了ispLEVER? Classic設(shè)計工具套件1.4版。ispLEVER Classic設(shè)計軟件已經(jīng)升級,添加了帶有HDL Analyst功能集的Synopsys Synplify Pro,以及改進(jìn)的ispMACH? 4000ZE CPLD Fitter,具有更好的功耗優(yōu)化功能。 Synplify Pro HDL Analyst為設(shè)計師們提供了快速直觀地實現(xiàn)高階寄存器傳輸級(RTL)Verilog或VHDL的方法。設(shè)計師可以在圖和源代碼之間進(jìn)行交叉查詢,
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用PLD簡化邊界掃描測試

- 引言 隨著JTAG標(biāo)準(zhǔn)IEEE1149.1的定型,及隨后開始在集成電路Intel 80486中采用,邊界掃描測試已被廣泛應(yīng)用于測試印刷電路板的連接,以及在集成電路內(nèi)進(jìn)行測試。邊界掃描測試受到設(shè)計人員的歡迎,因為它能夠在線測試,而無需昂貴的釘床在線測試設(shè)備。然而,在大的電路板上,邊界掃描鏈路很長,電路板設(shè)計人員面臨著多種挑戰(zhàn),諸如故障檢測和隔離、測試時間、物理布線,同時還要管理偏移,電壓轉(zhuǎn)換和滿足各種特殊需要。傳統(tǒng)上使用ASSP來應(yīng)對這些挑戰(zhàn),然而基于ASSP的解決方案更為昂貴,有固定的電平和一些
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