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測(cè)試測(cè)量
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NIDays 2008全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)中國(guó)站圓滿落幕
- 2008年11月——美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）2008年度 “NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會(huì)”中國(guó)站于11月18日在上海國(guó)際會(huì)議中心圓滿落幕。600余位工程師、11家國(guó)內(nèi)外知名測(cè)試測(cè)量企業(yè)以及20多家行業(yè)媒體到會(huì)。圍繞“工程師的奧林匹克——綠色應(yīng)用，科技共享”的主題，本次NIDays技術(shù)盛會(huì)通過(guò)5大專題、18場(chǎng)技術(shù)講座，逾40種案例演繹與新品展示等，向參會(huì)
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安捷倫科技在 LTE 全球峰會(huì)展示適用于LTE整個(gè)開發(fā)周期的測(cè)試解決方案
- 安捷倫科技公司在 全球峰會(huì)（LTE World Summit）上展示了LTE 測(cè)試解決方案，并對(duì)這個(gè)專門設(shè)計(jì)的、強(qiáng)大和可擴(kuò)展的進(jìn)行演示，展示了在 LTE 用戶設(shè)備開發(fā)周期（從早期協(xié)議開發(fā)到一致性測(cè)試）各個(gè)環(huán)節(jié)的測(cè)試功能。 安捷倫科技副總裁兼安捷倫歐洲、中東地區(qū)和非洲市場(chǎng)銷售總經(jīng)理 Benoit Neel表示，“安捷倫是測(cè)量行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者，可為整個(gè) LTE 開發(fā)周期提供解決方案。我們已經(jīng)開發(fā)了一些率先面市的 LTE 測(cè)試產(chǎn)品，確保成功部署 LTE，使之滿足快速上市的目標(biāo)。&r
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測(cè)試測(cè)量介紹
電子測(cè)試測(cè)量?jī)x器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號(hào)發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計(jì)、電源、臺(tái)式萬(wàn)用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測(cè)試儀、耐壓/絕緣測(cè)試儀……
通信測(cè)試測(cè)量?jī)x器：光時(shí)域反射儀（OTDR）、光纖熔接機(jī)、光萬(wàn)用表、光源、光電話、光功率計(jì)、2M測(cè)試儀、協(xié)議分析儀、無(wú)線電綜合測(cè)試儀、數(shù)字電纜分析測(cè)試
儀、電纜故障測(cè) [ 查看詳細(xì) ]
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