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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測(cè)試方案

PCIE 3.0 的接收機(jī)物理層測(cè)試方案

  • 一、接收機(jī)測(cè)試及環(huán)回工作模式（Loopback ） 隨著信號(hào)速率的不斷提升，只對(duì)高速信號(hào)的發(fā)送端物理層測(cè)試已經(jīng)不能夠完全反應(yīng)系統(tǒng)的特性，因此接收機(jī)測(cè)試也已成為了高速信號(hào)的必測(cè)項(xiàng)目，尤其是對(duì)于信號(hào)速率高于5Gbps 以
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榨汁機(jī)啟動(dòng)電流測(cè)試方案

  • 榨汁機(jī)電機(jī)在啟動(dòng)和換擋時(shí)的啟動(dòng)電流和啟動(dòng)時(shí)間是要測(cè)試的一項(xiàng)重要的參數(shù)，一是檢測(cè)設(shè)備的設(shè)計(jì)、制造、安裝的相符性；二是為以后的生產(chǎn)、運(yùn)行、維修記錄下參考數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)的方法是測(cè)出電機(jī)啟動(dòng)時(shí)的最大值作為啟動(dòng)電流
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基于B2912A的有機(jī)太陽能電池測(cè)試方案

  • 隨著能源和環(huán)境問題的日趨嚴(yán)重，各種清潔能源的開發(fā)應(yīng)用日益得到重視，在這其中太陽能的利用是解決能源短缺和環(huán)境污染的最重要的途徑之一，而太陽能電池則是太陽能利用的一個(gè)非常重要的方面。當(dāng)前應(yīng)用和開發(fā)的太陽能
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100G部署提速需完備測(cè)試支持

  • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
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基于安捷倫CXA信號(hào)分析儀的EMI預(yù)兼容測(cè)試方案

  • 概述　　越來越多的電子制造公司認(rèn)識(shí)到頻繁地進(jìn)行電磁兼容（EMC）/ 電磁干擾（EMI ）檢測(cè)，整改，已經(jīng)成為了降低產(chǎn)品研 ...
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衛(wèi)星導(dǎo)航產(chǎn)品(GPS)測(cè)試方案詳解

  • 一、序論計(jì)算機(jī)互聯(lián)網(wǎng)、無線通訊、衛(wèi)星導(dǎo)航被稱為信息社會(huì)的三大支柱產(chǎn)業(yè)。據(jù)分析，到2030年前，一直都是衛(wèi)星導(dǎo)航產(chǎn)品的高速發(fā)展期。隨著科技的不斷進(jìn)步，衛(wèi)星導(dǎo)航產(chǎn)品被用到了人們生活的方方面面：測(cè)繪、物流、監(jiān)控
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可加快LTE/WiMAX設(shè)備開發(fā)的數(shù)字無線測(cè)試方案

  • DigRF V4是移動(dòng)基帶和射頻芯片之間的一種高速數(shù)字串行總線，也是LTE和WiMAX的關(guān)鍵技術(shù)。隨著基帶芯片和射頻芯片之間的通信鏈路從模擬向高速串行數(shù)字技術(shù)演變，DigRF標(biāo)準(zhǔn)對(duì)移動(dòng)無線系統(tǒng)的開發(fā)、集成和驗(yàn)證提出了哪些新
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片上芯片SoC挑戰(zhàn)傳統(tǒng)測(cè)試方案

  • SoC廠商如何在提高復(fù)雜器件傳輸速度的同時(shí)降低測(cè)試成本?隨著先進(jìn)的集成電路(IC)設(shè)計(jì)方法和高密度生產(chǎn)技術(shù)的使用，半導(dǎo)體廠商能夠把不同的數(shù)字和模擬電路集成在極小芯片上，其尺寸之小、功能之全尚無先例，我們稱之為
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OTDR PON測(cè)試方案介紹

  • 利用高質(zhì)量 OTDR 以及軟件工具向用戶提供的可靠信息，可以高度簡(jiǎn)化 OTDR 測(cè)試和對(duì)結(jié)果的解釋。為了幫助闡明用于 PON 網(wǎng)絡(luò)驗(yàn)證和故障診斷的 OTDR 測(cè)試方法，本文將介紹相對(duì)于普通 OTDR 而言，PON 優(yōu)化型 OTDR 在使用
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FPGA測(cè)試方案隨需而變

  • 大容量、高速率和低功耗已成為FPGA的發(fā)展重點(diǎn)。嵌入式邏輯分析工具無法滿足通用性要求，外部測(cè)試工具可以把FPGA內(nèi)部信號(hào)與實(shí)際電路聯(lián)合起來觀察系統(tǒng)真實(shí)運(yùn)行情況。隨著FPGA技術(shù)的發(fā)展，大容量、高速率和低功耗已經(jīng)成
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Agilent LVDS傳輸系統(tǒng)測(cè)試方案

  • LVDS是低壓差分信號(hào)的簡(jiǎn)稱，由于其優(yōu)異的高速信號(hào)傳輸性能，目前在高速數(shù)據(jù)傳輸領(lǐng)域得到了越來越多的應(yīng)用。其典型架構(gòu)如下：一般LVDS的傳輸系統(tǒng)由FPGA加上LVDS的Serdes芯片組成， LVDS的Serializer芯片把FPGA的多路并
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數(shù)據(jù)中心的整體測(cè)試方案

  • 1 引言數(shù)據(jù)中心(Data Center)集中為各種企業(yè)業(yè)務(wù)提供數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)了IT系統(tǒng)整合和集中管理。這也導(dǎo)致數(shù)據(jù)中心規(guī)模越來越大，復(fù)雜度越來越高。為了建設(shè)集中扁平化，統(tǒng)一多種應(yīng)用的融合數(shù)據(jù)中心，未來數(shù)據(jù)中心建設(shè)將圍繞融
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基于LabVIEW的航天執(zhí)行器的軟硬件測(cè)試方案

  • The Challenge:　　開發(fā)基于PC機(jī)的壽命測(cè)試系統(tǒng)來替換傳統(tǒng)的基于人工的系統(tǒng)，用于航天執(zhí)行器的壽命測(cè)試?！　he Solution:　　借助于NI LabVIEW軟件，使用PCI數(shù)據(jù)采集硬件進(jìn)行壽命仿真，使用NI CompactRIO硬件用于傳
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基于BIST的IP核測(cè)試方案

  • 1 引言　　隨著半導(dǎo)體工藝的發(fā)展，片上系統(tǒng)SOC已成為當(dāng)今一種主流技術(shù)?；贗P復(fù)用的SOC設(shè)計(jì)是通過用戶自定義邏輯(UDL)和連線將IP核整合為一個(gè)系統(tǒng)，提高了設(shè)計(jì)效率，加快了設(shè)計(jì)過程，縮短了產(chǎn)品上市時(shí)間。但是隨著設(shè)
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3G接入WLAN測(cè)試方案 WLAN測(cè)試基本概念

  • 【摘要】介紹了WLAN的基本概念及其測(cè)試，并且在此基礎(chǔ)上介紹了羅德與施瓦茨公司的全面測(cè)試解決方案。1 引言隨 ...
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