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晶體 文章 進(jìn)入晶體技術(shù)社區(qū)
針對(duì)SMD晶體器件檢測(cè)的機(jī)器視覺(jué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

- SMD(晶體諧振器)晶體器件檢測(cè)是在晶體器件生產(chǎn)流程中一道至關(guān)重要的工序,晶體器件的所有電性能指標(biāo)經(jīng)過(guò)該道工序的檢測(cè)后,合格品即可包裝出廠。由于其是最后一道檢測(cè)工序,因此其檢測(cè)的正確率直接影響到出廠產(chǎn)品的品質(zhì)。一般來(lái)說(shuō),在批量生產(chǎn)中同一批次的產(chǎn)品中誤測(cè)率必須小于2ppm,即一百萬(wàn)個(gè)出廠產(chǎn)品中,不能出現(xiàn)2個(gè)不合格品,否則購(gòu)買(mǎi)該批次產(chǎn)品的用戶就會(huì)要求退貨。而對(duì)于出口產(chǎn)品,用戶的要求則會(huì)更加嚴(yán)格,除了要求電性能指標(biāo)要符合要求外,印制在SMD器件外殼上的標(biāo)記的方向也必須保持一致。因此,為了提高產(chǎn)品的出廠品質(zhì),除了
- 關(guān)鍵字: SMD 晶體 201107
回看過(guò)去10年的芯片設(shè)計(jì)
- 全球IC設(shè)計(jì)與10年之前有很大差別,那時(shí)EVE公司剛開(kāi)始設(shè)計(jì)它的第一個(gè)產(chǎn)品。在2000年時(shí)半導(dǎo)體業(yè)正狂熱的進(jìn)入一個(gè)新時(shí)代。 回看那時(shí),工藝技術(shù)是180納米及設(shè)計(jì)晶體管的平均數(shù)在2000萬(wàn)個(gè)。一個(gè)ASIC平均100萬(wàn)門(mén),而大的設(shè)計(jì)到1000萬(wàn)門(mén)及最大的設(shè)計(jì)在1億個(gè)門(mén)。僅只有很少部分設(shè)計(jì)從功能上采用嵌入式軟件。 驗(yàn)證占整個(gè)設(shè)計(jì)周期的70%時(shí)間及僅只有在大的CPU或圖像芯片設(shè)計(jì)中才采用仿真emulation。在2000年EVE的仿真系統(tǒng)能夠進(jìn)行60萬(wàn)門(mén)的ASIC,幾乎己到極限。 到2010
- 關(guān)鍵字: IC設(shè)計(jì) ASIC 晶體
接收機(jī)用晶體變換器設(shè)計(jì)及制作

- 晶體變換器的印刷電路基板的制作與調(diào)整 圖26晶體變換器的印刷電路基板圖26晶體變換器的印刷電路基板圖26所示的為晶體變換器的印刷電路基板。由于為VHF頻帶,可以使用紙樹(shù)脂基板。對(duì)于高頻率放大電路與頻率變換電路的
- 關(guān)鍵字: 制作 設(shè)計(jì) 變換器 晶體 接收機(jī)
晶體介紹
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