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EEPW首頁 >> 主題列表 >> 損傷

電池的損傷機理與故障預警

  • 0 引言 電池組突發(fā)失效是后備供電系統(tǒng)中的一大安全隱患，如何預防電池組突發(fā)失效是電池維護技術(shù)中具有挑戰(zhàn)性的課題。目前，電池組突發(fā)失效所呈現(xiàn)出的不可預知性成為了研究電池故障預警技術(shù)的原動力。實現(xiàn)電池故
  • 關(guān)鍵字： 預警  故障  機理  損傷  電池  

VDMOS器件損傷的DC／DC轉(zhuǎn)換器輻射預兆單元設(shè)計

  • 航天用DC／DC轉(zhuǎn)換器工作在太空輻射環(huán)境下，輻射損傷是其主要失效機理。DC／DC轉(zhuǎn)換器的可靠性關(guān)系到整個航天器的可靠性，國內(nèi)外廣泛研究了DC／DC轉(zhuǎn)換器輻射損傷失效機理、失效模式和抗輻射篩選與加固措施。隨著
  • 關(guān)鍵字： DC  預兆  單元  設(shè)計  輻射  轉(zhuǎn)換器  器件  損傷  VDMOS  DC／DC轉(zhuǎn)換器  

DC／DC輻照損傷與VDMOS器件1／f噪聲相關(guān)性研究

  • 通過對DC／DC轉(zhuǎn)換器低頻噪聲測試技術(shù)以及在y輻照前后電性能與1/f噪聲特性變化的對比分析，發(fā)現(xiàn)使用低頻噪聲表征DC／DC轉(zhuǎn)換器的可靠性是對傳統(tǒng)電參數(shù)表征方法的一種有效補充。對DC／DC轉(zhuǎn)換器輻照損傷與其內(nèi)部VDMOS器件1/f噪聲相關(guān)性進行了研究，討論了引起DC／DC轉(zhuǎn)換器輻照失效的原因。
  • 關(guān)鍵字： DC  相關(guān)性  研究  噪聲  VDMOS  輻照  損傷  器件  轉(zhuǎn)換器  
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