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我國(guó)材料檢測(cè)儀器技術(shù)水平與發(fā)達(dá)國(guó)家差距

  •   材料檢測(cè)儀器在國(guó)民經(jīng)濟(jì)中發(fā)揮著重要的作用,可以促進(jìn)科技創(chuàng)新、工業(yè)進(jìn)步,支撐材料檢測(cè)服務(wù)業(yè)發(fā)展。2013年4月19日,在中國(guó)儀器儀表行業(yè)協(xié)會(huì)、中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)、儀器信息網(wǎng)聯(lián)合主辦的2013中國(guó)科學(xué)儀器發(fā)展年會(huì)(ACCSI2013)上,中航工業(yè)北京航空材料研究院檢測(cè)中心黨委書(shū)記宋曉輝就材料檢測(cè)對(duì)科學(xué)儀器的最新需求和發(fā)展趨勢(shì)作了介紹。   據(jù)宋曉輝介紹,當(dāng)前全球檢測(cè)儀器行業(yè)的發(fā)展趨勢(shì)和特點(diǎn)是:并購(gòu)擴(kuò)張,行業(yè)布局發(fā)生重大變化,主要表現(xiàn)在歐美儀器企業(yè)在進(jìn)行裁員的同時(shí),積極進(jìn)軍以巴西、俄羅斯、印度和
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基于虛擬儀器的任意m序列設(shè)計(jì)

  • 摘要 論述了偽隨機(jī)m序列的產(chǎn)生原理、特性以及構(gòu)成方法,利用LabWindows/CVI為開(kāi)發(fā)平臺(tái),設(shè)計(jì)了一種2~22級(jí)m序列發(fā)生器。仿真結(jié)果表明,該系統(tǒng)具有遠(yuǎn)程通信、界面友好、易于集成和擴(kuò)展等優(yōu)點(diǎn),可實(shí)現(xiàn)無(wú)線激光通信系統(tǒng)
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衡量測(cè)試系統(tǒng)和儀器優(yōu)劣的關(guān)鍵點(diǎn)

  • 在可用的測(cè)試和測(cè)量硬件和軟件范圍內(nèi)進(jìn)行選擇,對(duì)初次用戶和有經(jīng)驗(yàn)的用戶來(lái)說(shuō),都一樣難辦,這是可以理解的。技術(shù)的進(jìn)步使測(cè)量和測(cè)試方法的發(fā)展呈指數(shù)方式加快,給用戶提供難以想象的強(qiáng)大系統(tǒng)功能。測(cè)試和測(cè)量設(shè)備跨
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控件在智能勘驗(yàn)儀器裝置的運(yùn)用

  • 當(dāng)頻率設(shè)置數(shù)據(jù)為K,參考頻率為fr,相位累加器位數(shù)為N時(shí),DDS輸出的信號(hào)頻率為fout=(frK)/2N.雖然理論上DDS的輸出頻率可從直流一直到fr/2,但考慮到濾波器的邊緣陡度及輸出信號(hào)的頻譜純度,實(shí)際的輸出頻率一般從直流
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對(duì)使用新型測(cè)試技術(shù)和儀器的幾點(diǎn)忠告

  • 隨著半導(dǎo)體制造商向65納米技術(shù)轉(zhuǎn)移并展望更小節(jié)點(diǎn),嚴(yán)峻的測(cè)試挑戰(zhàn)也開(kāi)始浮出水面?,F(xiàn)在,工藝開(kāi)發(fā)工程師們必須放棄由硅、二氧化硅、多晶硅和鋁材料構(gòu)成的良性世界,而將自己置于由硅鍺(SiGe)、絕緣體上硅(SOI)、亞硝
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整合高性能儀器和FPGA,實(shí)現(xiàn)最佳WLAN測(cè)量

  • 概述在下一代無(wú)線局域網(wǎng)白皮書(shū)中已經(jīng)討論了最新的802.11標(biāo)準(zhǔn)存在的一些問(wèn)題。眾所周知,測(cè)試工程師都想盡快找到測(cè)試該標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試設(shè)備。大多數(shù)測(cè)試工程師發(fā)現(xiàn)使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經(jīng)無(wú)法適用于該情
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了解LabVIEW FPGA和軟件設(shè)計(jì)射頻儀器的優(yōu)勢(shì)所在

  • 概覽   無(wú)線設(shè)備的數(shù)量、通信標(biāo)準(zhǔn)的多樣性,以及調(diào)制方案的復(fù)雜度,每一年都在不斷增加。而隨著每一代新技術(shù)的誕生,由于使用傳統(tǒng)技術(shù)測(cè)試無(wú)線設(shè)備,需要大量更復(fù)雜的測(cè)試設(shè)備,其成本也在不斷提高。   使用虛擬(軟件)儀器與模塊化I/O相結(jié)合是一種最小化硬件成本并減少測(cè)試時(shí)間的方法。軟件設(shè)計(jì)儀器的新方法使得射頻測(cè)試工程師無(wú)需憑借自定義或特殊標(biāo)準(zhǔn)的儀器,就能以多個(gè)數(shù)量級(jí)的幅度減少測(cè)試時(shí)間。
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FPGA增強(qiáng)RF儀器應(yīng)用

  • FPGA是一種可以重復(fù)改變組態(tài)的電路,可讓設(shè)計(jì)者進(jìn)行編程的邏輯閘元件,特別適用于產(chǎn)品開(kāi)發(fā)時(shí)必須不斷變更設(shè)計(jì)的應(yīng)用,以有效加速產(chǎn)品上市時(shí)間。而FPGA電路的特性,特別適合用于軟體定義的測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu),這也正式目前
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智能儀器中一種菜單式人機(jī)界面的軟硬件設(shè)計(jì)

  • 摘 要: 由點(diǎn)陣式液晶顯示器和旋轉(zhuǎn)式光電編碼開(kāi)關(guān)構(gòu)成的智能儀器的人機(jī)交互界面,使儀器的操作向菜單式、傻瓜型邁進(jìn)。在闡述光電編碼開(kāi)關(guān)基本原理和使用方法的基礎(chǔ)上,介紹了I2C 接口芯片電路形成的硬件輸入結(jié)構(gòu),該
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基于嵌入式技術(shù)的智能儀器觸摸屏接口設(shè)計(jì)

  • 摘要: 研究開(kāi)發(fā)了嵌入式智能儀器的觸摸屏接口; 分析了電阻式觸摸屏的工作原理; 設(shè)計(jì)了觸摸屏與微處理器的接口電路; 開(kāi)發(fā)了嵌入式L inux框架下的觸摸屏設(shè)備驅(qū)動(dòng)程序; 闡述了采用觸摸屏作為輸入的MiniGU I應(yīng)用程序的編
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測(cè)試測(cè)量系統(tǒng)及儀器選擇的關(guān)鍵因素分析

  • 在可用的測(cè)試和測(cè)量硬件和軟件范圍內(nèi)進(jìn)行選擇,對(duì)初次用戶和有經(jīng)驗(yàn)的用戶來(lái)說(shuō),都一樣難辦,這是可以理解的。技術(shù)的進(jìn)步使測(cè)量和測(cè)試方法的發(fā)展呈指數(shù)方式加快,給用戶提供難以想象的強(qiáng)大系統(tǒng)功能。測(cè)試和測(cè)量設(shè)備跨
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儀器精度分析和精度設(shè)計(jì)的內(nèi)容和意義儀器精度分析和精度設(shè)計(jì)的內(nèi)容和意義

  • ①精度分析:根據(jù)儀器的工作原理、結(jié)構(gòu)、制造工藝和使用條件來(lái)分析和綜合儀器的誤差,這個(gè)過(guò)程稱為精度分析。②精度設(shè)計(jì):根據(jù)使用要求確定儀器的總誤差指標(biāo),再將總誤差分配到各個(gè)誤差源中去,形成對(duì)各組成部件、零
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電子測(cè)試儀器的分類和使用

  • 電子測(cè)量?jī)x器按其工作原理與用途,大致劃為以下幾類:1.多用電表模擬式電壓表、模擬多用表(即指針式萬(wàn)用表V...
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單片機(jī)C8051F020簡(jiǎn)介及其在儀器和儀表中的應(yīng)用

  • 1引言  當(dāng)前,隨著科學(xué)技術(shù)及工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)水平的不斷提高,對(duì)相應(yīng)的儀器儀表也提出越來(lái)越高的要求,因此,儀器儀表需擴(kuò)展大量的外圍功能部件來(lái)滿足儀器儀表復(fù)雜性、高性能及智能化的要求?! ∵@種方法雖然滿足了儀器的復(fù)
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基于VXI儀器的電路板故障診斷系統(tǒng)

  • 某機(jī)電控制系統(tǒng)采用了集中分布式計(jì)算機(jī),其功能強(qiáng),操作簡(jiǎn)便,但配置龐大、復(fù)雜,所包含的幾百塊印刷電路板是易發(fā)生故障的環(huán)節(jié),維修測(cè)試技術(shù)要求高。為了縮短排除電路板故障的時(shí)間,提高維修質(zhì)量,我們研制了基于VX
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儀器介紹

  儀器(英文:instrument;apparatus)是為某一特定用途所準(zhǔn)備的一套裝置或機(jī)器。   1.儀器類產(chǎn)品概述   儀器通常用于科學(xué)研究或技術(shù)測(cè)量、工業(yè)自動(dòng)化過(guò)程控制、生產(chǎn)等用途,一般來(lái)說(shuō)專用于一個(gè)目的的設(shè)備或裝置。儀器構(gòu)造較為復(fù)雜,屬于高新技術(shù)產(chǎn)品;由多個(gè)部件組成的。儀器體積、重量、形狀有各種各樣,最小的可以直接拿在手中操作,較大體積的儀器一般被稱為裝置或設(shè)備。   釋義: [ 查看詳細(xì) ]
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