国产肉体XXXX裸体137大胆,国产成人久久精品流白浆,国产乱子伦视频在线观看,无码中文字幕免费一区二区三区 国产成人手机在线-午夜国产精品无套-swag国产精品-国产毛片久久国产

新聞中心

EEPW首頁 > EDA/PCB > 業(yè)界動態(tài) > 科利登安裝完備失效分析實驗室

科利登安裝完備失效分析實驗室

——
作者: 時間:2005-11-04 來源: 收藏
系統(tǒng)有限公司,日前宣布威盛電子股份有限公司(VIA Technologies, Inc.)成為臺灣地區(qū)首家從購買整套用于設(shè)計,調(diào)試和特征分析的先進的電性失效分析實驗室的Fabless(無生產(chǎn)線的芯片設(shè)計公司)。

可用于65nm技術(shù)的完備實驗室解決方案包括了電子發(fā)射顯微系統(tǒng),具有時間精度的發(fā)射技術(shù),激光掃描顯微系統(tǒng)以及電路編輯。它還擁有方便高效的軟件工具,能把所有的失效分析和設(shè)計調(diào)試的硬件單元集成起來。該解決方案通過提高整體的產(chǎn)品質(zhì)量,能為半導(dǎo)體產(chǎn)品的良率提升和可靠性分析提供很高的投資回報率。它能增加首次流片的成功概率,加速產(chǎn)品上市時間,加快關(guān)鍵缺陷的失效分析,從而減少產(chǎn)品開發(fā)及掩模板時故障隔離的成本。同時,它也能在芯片設(shè)計和生產(chǎn)之間的灰色區(qū)域進行有效的特征分析。


關(guān)鍵詞: 科利登

評論


技術(shù)專區(qū)

關(guān)閉