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電磁兼容外場測試中的干擾抵消技術

—— Eliminating Interference in EMC Measurement
作者:葛壽兵 中國電子科技集團公司第23研究所 龔成 中國電子科技集團公司第50研究所 時間:2009-04-14 來源:電子產品世界 收藏

  引言

本文引用地址:http://m.ptau.cn/article/93435.htm

  由于大型電子設備在進行(EMC)性考核時,很難進入屏蔽室進行而只能在室外開闊場地進行,從而難以控制測試時的環(huán)境背景噪聲電平,使測試結果出現很大誤差。如何區(qū)分背景噪聲信號,鑒別出受試設備發(fā)出的被測信號一直是EMC測試中的一個難題。在各種不同的背景信號中,同頻干擾與被測信號無法通過頻譜進行分離,本文的目的就是想用空間分離技術,通過適當的測試方法,對于任意方向的同頻干擾信號進行有效的擬制,從而得到有效的測試結果。

  消除同頻干擾的基本方法

  合成場分析

  在圖1所示的測試環(huán)境中,設待測信號與干擾信號均為線極化(在工程實際中,這樣的假設是合理的),待測信號電場強度為:

  干擾信號電場強度

  待測電場為向線極化,沿向傳播,式(1)中Epm是被測信號源處的電場強度值;rp是被測信號到測試點的距離;wp是被測信號的初始相位;wp是被測信號角頻率。


圖1 性測試環(huán)境示意圖


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