測試設計的新語言CTL(04-100)
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CTL基ATE
本文引用地址：http://m.ptau.cn/article/81045.htmAgilent 公司的設計與測試之間接口標準化為加速IC產(chǎn)品開發(fā)提供一種最好的機會。
2001年，Agilent和Syopsys公司結(jié)成戰(zhàn)略聯(lián)盟，意圖在于加快EDA-aware ATE和ATE-aware EDA.STIL的上市時間和降低測試成本。用CTL和其他CTL擴展版本為此提供實現(xiàn)機構(gòu)。
Agilent 公司附加到SmartTest Program Generator 上的CTL Browser，使得單步測試程序生成流能直接接受核或SoC級CTL碼并直接輸出可下載的Agilent 93000 SOC Series 二進制文件(見圖2)。
CTL給出SmartTest Program Generator具有分析來自測試聯(lián)系的設計能力。例如，測試工程技術人員現(xiàn)在具有了解如下的能力：用BIST或任選功能向量測試哪些核，哪些核共享一個專門的掃描鏈或哪些頂級I/O引腳連接到哪些內(nèi)部核I/O引腳。這種對CTL的支持，使測試工程技術人員有能力使基于已有但從前未知信息基礎上的測試程序最佳化。
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