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利用觸發(fā)同步源表進行VCSEL測試

作者: 時間:2012-07-11 來源:網絡 收藏

垂直腔面發(fā)射激光器()正在逐步代替?zhèn)鹘y(tǒng)的邊發(fā)射激光器,特別是成本因素特別重要的低帶寬和短距通信系統(tǒng)中。邊發(fā)射激光器在測試之前必須從上切割下來,并磨光邊沿,而廠家可以在級測試其器件。

光強度(L)-電流(I)-電壓(V)掃描是確定工作特性而進行的一系列測量。LIV測試需要有斜波電流通過VCSEL,并利用光電探測器(PD)測量產生的光輸出。
圖 7?29所示為一個簡單的級測試系統(tǒng)。使用了兩臺2400型源表。一個晶圓探針通過一塊探針卡電氣連接到每個器件。探針臺也將光探測器定位到器件的正上方。當來自VCSEL的光照射到反向偏壓的PD時,漏流將增大。漏流的幅值與照射到有源區(qū)的光密度相關聯(lián)。

圖 7?29 VCSEL的晶圓級測試

切換配置

如果探針卡能同時連接多個器件,那么就可以利用如圖 7?30所示的系統(tǒng),在探針卡每次連接到晶圓時同時測試所有的器件。

選擇個體VCSEL進行測試,該VCSEL的相應繼電器被閉合,并利用PD來檢查光密度。源表首先進行必要的直流測試,例如正向偏壓、反向擊穿電壓和漏流。然后強加足夠的電流照射VCSEL,第二塊2400測量PD增加的漏泄。在完成該項測試后,則選擇下一個器件的切換通道。

根據測試規(guī)范的電流靈敏度要求,可利用2400或6517A測量PD。2400可用于測量大約10nA的電流,而6517A則能可靠測量小于10fA的電流。

7011型多路選通卡的偏移電流技術指標為100pA,可能會超過測試系統(tǒng)的允許誤差。代之以7158型小電流掃描卡可把偏移值降低至1pA。注意,由于小電流開關卡僅有10個通道用于掃描,所以使用小電流開關卡將降低系統(tǒng)中可用通道的數(shù)量。


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關鍵詞: 同步源表 VCSEL 晶圓

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