注意：在正式測(cè)量前X,Y,Z軸最好先進(jìn)行回零。因?yàn)闄C(jī)械位置誤差的補(bǔ)償是以零位為基準(zhǔn)的，同時(shí)軟件的行程限位也是相對(duì)于零位的。

　　3. 預(yù)測(cè)試

　　通過(guò)沿水平或垂直方向掃描待測(cè)天線(xiàn)的中心行所獲幅相數(shù)據(jù)來(lái)判斷天線(xiàn)的安裝是否滿(mǎn)足測(cè)試要求。由相位數(shù)據(jù)可判斷探頭掃描面是否與天線(xiàn)口徑面平行，同時(shí)根據(jù)幅度數(shù)據(jù)可確定掃描面的大小及起點(diǎn)位置。

　　4. 測(cè)試功能

　　該功能包括天線(xiàn)的近場(chǎng)測(cè)試和遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試。在近場(chǎng)測(cè)試前應(yīng)先執(zhí)行預(yù)掃描，以調(diào)整天線(xiàn)口徑面與探頭掃描面平行，并確定掃描面積和起點(diǎn)。而遠(yuǎn)場(chǎng)調(diào)整時(shí)，應(yīng)將探頭對(duì)準(zhǔn)天線(xiàn)口徑中心。

　　* 平面近場(chǎng)掃描

　　用戶(hù)通過(guò)設(shè)置測(cè)試軌跡(水平或垂直掃描)、采樣方式(單向或雙向)、極化方向、測(cè)試參數(shù)設(shè)置(頻率、行數(shù)、行間距、行點(diǎn)數(shù)、點(diǎn)間距)等參數(shù)來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)量。為了校正接收機(jī)由于長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量所造成的幅度相位漂移設(shè)計(jì)了Tie掃描功能。同時(shí)還具有速度設(shè)定、顯示參數(shù)設(shè)定和實(shí)時(shí)顯示等功能。

　　* 遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量

　　用于口徑較小天線(xiàn)的暗室遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。用戶(hù)通過(guò)設(shè)置頻率、方位角、角增量等參數(shù)來(lái)設(shè)計(jì)測(cè)量。同時(shí)可通過(guò)顯示參數(shù)的設(shè)定，選擇對(duì)數(shù)直角坐標(biāo)或?qū)?shù)極坐標(biāo)格式實(shí)時(shí)顯示測(cè)量的幅度數(shù)據(jù)。改變參考電平和刻度能夠改變曲線(xiàn)的顯示效果。曲線(xiàn)的位置是根據(jù)參考電平大小改變的，而刻度決定了幅度的顯示范圍。用戶(hù)可根據(jù)實(shí)測(cè)幅度值調(diào)整參考電平和刻度來(lái)獲得最佳顯示效果。圖形編輯功能對(duì)所測(cè)遠(yuǎn)場(chǎng)數(shù)據(jù)曲線(xiàn)，給出標(biāo)題注釋?zhuān)⑼ㄟ^(guò)移動(dòng)光標(biāo)加注標(biāo)記。程序能自動(dòng)計(jì)算波束的半功率角和第一副瓣的位置。

　　5.儀器控制

　　該部分將儀器通過(guò)遠(yuǎn)程控制實(shí)現(xiàn)了儀器的虛擬。程序模擬VNA37147的面板功能，用戶(hù)可完成儀器的仿真操作。對(duì)于熟悉儀器操作和控制指令的用戶(hù)則可通過(guò)控制示例直接對(duì)儀器進(jìn)行控制。該功能為開(kāi)發(fā)人員提供了一簡(jiǎn)潔的調(diào)試環(huán)境。

五、 系統(tǒng)性能指標(biāo)

　　西安電子科技大學(xué)為信息產(chǎn)業(yè)部長(zhǎng)嶺機(jī)器廠(chǎng)研制的近遠(yuǎn)場(chǎng)綜合測(cè)試系統(tǒng)。系統(tǒng)調(diào)試中采用Hp5525A雙頻激光測(cè)量?jī)x對(duì)各軸定位精度、重復(fù)定位精度和直線(xiàn)度進(jìn)行檢測(cè)，然后采用軸向定點(diǎn)誤差補(bǔ)償、絲杠螺距誤差補(bǔ)償、間隙補(bǔ)償?shù)确椒ǎ岣吡讼到y(tǒng)精度。

　　驅(qū)動(dòng)軸全程累積誤差

　　(mm)重復(fù)定位精度

　　(mm)直線(xiàn)度

　　(mm)最大運(yùn)動(dòng)速度

　　(mm/s)X(4.5m)設(shè)計(jì)0.10.030.0480實(shí)測(cè)0.0570.0140.04100Y(3.6m)設(shè)計(jì)0.10.030.05100實(shí)測(cè)0.050.0090.03100Z(0.3m)設(shè)計(jì)0.10.030.0230實(shí)測(cè)0.0780.0290.0250

　　對(duì)平面近場(chǎng)掃描而言，Z向的機(jī)械誤差等同于待測(cè)天線(xiàn)的相位誤差，其影響大小取決于待測(cè)天線(xiàn)和誤差校正方法。研究表明對(duì)于窄波束天線(xiàn)，X和Y向誤差只影響副瓣區(qū)域且其影響僅為Z向的1/10[2]。實(shí)測(cè)表明系統(tǒng)具有很好的重復(fù)性。

　　六、 結(jié)論

　　一種新型、快速、高精度的近遠(yuǎn)場(chǎng)綜合測(cè)試系統(tǒng)已在信息產(chǎn)業(yè)部長(zhǎng)嶺機(jī)器廠(chǎng)建成，該系統(tǒng)完全達(dá)到了設(shè)計(jì)指標(biāo)。其機(jī)械精度優(yōu)于設(shè)計(jì)要求，表明基于PMAC可編程控制卡的系統(tǒng)控制方案的可行性和優(yōu)越性。系統(tǒng)具有良好的推廣價(jià)值。