常用的天線測量技術(shù)
在測量時(shí),計(jì)算機(jī)控制測試轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng),并自動(dòng)采集各個(gè)對應(yīng)角度的接收信號
的數(shù)據(jù)(包括幅度、相位),經(jīng)數(shù)據(jù)處理,得到天線的各個(gè)特性參數(shù)(如方向圖、
副瓣電平、零點(diǎn)位置、半功率波瓣寬度等)。
2.近場掃描測量技術(shù)
是用一個(gè)特性已知的探頭,抽測天線近區(qū)某一表面上場的幅、相分布,通過嚴(yán)格的數(shù)學(xué)變換式可以確定天線的遠(yuǎn)場特性。根據(jù)測量時(shí)掃描面的不同,將近場掃描測量技術(shù)分為平面掃描近場測量技術(shù),柱面或球面掃描近
場測量技術(shù)。
2.1. 平面掃描近場測量技術(shù)(平面近場測量)
被測天線不動(dòng),X-Y 掃描架帶動(dòng)測試探頭,測量被測天線在近區(qū)平面內(nèi)的電磁
場分布(包括幅度、相位),經(jīng)平面近遠(yuǎn)場變換,得到天線遠(yuǎn)場的特性。
2.2. 柱面掃描近場測量技術(shù)(柱面近場測量)
被測天線轉(zhuǎn)動(dòng),加上探頭沿Y 向步進(jìn)移動(dòng),測量被測天線近區(qū)柱面上的電磁
場分布(包括幅度、相位),經(jīng)柱面近遠(yuǎn)場變換,得到天線的遠(yuǎn)場特性。
2.3. 球面掃描近場測量技術(shù)(球面近場測量)
測試時(shí),測試探頭不動(dòng),使被測天線沿俯仰軸和方位軸轉(zhuǎn)動(dòng)來測試被測天線
近區(qū)球面上的電磁場分布,經(jīng)球面近遠(yuǎn)場變換,得到天線的遠(yuǎn)場特性。
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