在測量時(shí)，計(jì)算機(jī)控制測試轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)，并自動(dòng)采集各個(gè)對應(yīng)角度的接收信號
的數(shù)據(jù)（包括幅度、相位），經(jīng)數(shù)據(jù)處理，得到天線的各個(gè)特性參數(shù)（如方向圖、
副瓣電平、零點(diǎn)位置、半功率波瓣寬度等）。

2.近場掃描測量技術(shù)

是用一個(gè)特性已知的探頭，抽測天線近區(qū)某一表面上場的幅、相分布，通過嚴(yán)格的數(shù)學(xué)變換式可以確定天線的遠(yuǎn)場特性。根據(jù)測量時(shí)掃描面的不同，將近場掃描測量技術(shù)分為平面掃描近場測量技術(shù)，柱面或球面掃描近
場測量技術(shù)。
2.1. 平面掃描近場測量技術(shù)（平面近場測量）
被測天線不動(dòng)，X-Y 掃描架帶動(dòng)測試探頭，測量被測天線在近區(qū)平面內(nèi)的電磁
場分布（包括幅度、相位），經(jīng)平面近遠(yuǎn)場變換，得到天線遠(yuǎn)場的特性。
2.2. 柱面掃描近場測量技術(shù)（柱面近場測量）
被測天線轉(zhuǎn)動(dòng)，加上探頭沿Y 向步進(jìn)移動(dòng)，測量被測天線近區(qū)柱面上的電磁
場分布（包括幅度、相位），經(jīng)柱面近遠(yuǎn)場變換，得到天線的遠(yuǎn)場特性。
2.3. 球面掃描近場測量技術(shù)（球面近場測量）
測試時(shí)，測試探頭不動(dòng)，使被測天線沿俯仰軸和方位軸轉(zhuǎn)動(dòng)來測試被測天線
近區(qū)球面上的電磁場分布，經(jīng)球面近遠(yuǎn)場變換，得到天線的遠(yuǎn)場特性。