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高精度A/D在測(cè)磁設(shè)備中的應(yīng)用

作者: 時(shí)間:2016-12-26 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
摘要:磁場(chǎng)測(cè)量通常需要很高的精度。把內(nèi)置微控制器的高速高精度16位A/D轉(zhuǎn)換器AD676應(yīng)用在測(cè)磁設(shè)備中,很好地滿足了磁場(chǎng)測(cè)量的精度要求。

本文引用地址:http://m.ptau.cn/article/201612/333802.htm

1 AD676的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

在對(duì)艦船磁場(chǎng)的測(cè)量過(guò)程中,由于艦船的運(yùn)動(dòng)姿態(tài)不斷變化,使艦船磁場(chǎng)投影到各分量的強(qiáng)度也不斷變化。為實(shí)現(xiàn)對(duì)艦船磁場(chǎng)的動(dòng)態(tài)測(cè)量,因此,磁場(chǎng)測(cè)量必須快速而準(zhǔn)確。選用87C51單片機(jī)擴(kuò)展內(nèi)置微控制器的高速16位A/D轉(zhuǎn)換器AD676能很好地滿足這一要求。

AD676的內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖1所示。由兩個(gè)單片部分組成,即數(shù)字控制單片和模擬ADC單片。數(shù)字控制單片是用DXPCMOS工藝制造,而模擬ADC單片是用BIMOSⅡ工藝制造的。該器件是使用逐次逼近技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)A/D轉(zhuǎn)換的,但內(nèi)部沒(méi)有傳統(tǒng)的電阻梯網(wǎng)絡(luò),取而代之的是電容陣列。AD676是采用帶二進(jìn)制權(quán)值的電容器將輸入的采樣信號(hào)進(jìn)行分配以實(shí)現(xiàn)模擬到數(shù)字的轉(zhuǎn)換的。采用電容陣列帶來(lái)了三方面的好處:

  (1).達(dá)到了100KSPS的高速轉(zhuǎn)換率(總的轉(zhuǎn)換時(shí)間為10μS);

  (2).消除了傳統(tǒng)的電阻網(wǎng)絡(luò)因電阻值隨溫度變化所引起的誤差;

  (3).在不需增加外部電路的情況下,電容陣列實(shí)現(xiàn)了采樣保持功能。

但是,電容陣列具有初始誤差,內(nèi)部微程序控制器是專(zhuān)為消除電容陣列的初始誤差而

設(shè)計(jì)的。微程序控制器通過(guò)DAC來(lái)檢測(cè)電容陣列的匹配誤差,并把所檢測(cè)到的誤差存放在內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器RAM中,在初始采集數(shù)據(jù)之前,要使AD676進(jìn)行一次自動(dòng)校準(zhǔn),在以后的轉(zhuǎn)換中,微程序控制器便使用RAM中的值來(lái)校準(zhǔn)轉(zhuǎn)換所得的數(shù)字量而改善轉(zhuǎn)換精度。因此,AD676不需用戶(hù)校準(zhǔn)或調(diào)整,能自動(dòng)保持器件的高性能。

AD676內(nèi)部的所有功能,包括實(shí)際的逐次逼近算法、自動(dòng)校準(zhǔn)、采樣保持操作、內(nèi)部數(shù)據(jù)的輸出鎖存都是在微程序控制下進(jìn)行的。應(yīng)用中,不需用戶(hù)增加額外的硬件和軟件開(kāi)銷(xiāo),給用戶(hù)帶來(lái)了很大的方便。

2 AD676的主要性能

  (1).16位無(wú)丟失碼

  (2).轉(zhuǎn)換速率100KSPS(總的轉(zhuǎn)換時(shí)間為10μS)

  (3).自動(dòng)非線性校準(zhǔn)

  (4).積分非線性誤差(1NL)士1LSB

  (5).總的諧波失真(THD)0.002%

  (6).片內(nèi)具有采樣—保持功能

  (7).滿功率帶寬1MHz.

  (8).輸入模擬信號(hào)范圍士Vref

  (9).供電范圍:Vdd = +5V士10%

  Vcc = +12V士5%

  Vee = -12V士5%

  AD676采用28引腳DIP封裝和28引腳邊銅焊陶瓷封裝,封裝引腳見(jiàn)圖2。

3 AD676的時(shí)序

(1).校準(zhǔn)時(shí)序

AD676通過(guò)片內(nèi)自動(dòng)校準(zhǔn)過(guò)程不需用戶(hù)校對(duì)和調(diào)整便能達(dá)到規(guī)定的性能。校準(zhǔn)過(guò)程只需在初始采集數(shù)據(jù)前進(jìn)行一次即可,校準(zhǔn)時(shí)序見(jiàn)圖3。

當(dāng)給CAL加高電平時(shí),AD676內(nèi)部復(fù)位,BUSY輸出高電平,表明AD676已作好校準(zhǔn)的準(zhǔn)備。當(dāng)給CAL加低電平時(shí),校準(zhǔn)過(guò)程開(kāi)始,校準(zhǔn)時(shí)間為85530個(gè)時(shí)鐘周期,完成校準(zhǔn)的標(biāo)志為BUSY變?yōu)榈碗娖?。在大多?shù)應(yīng)用場(chǎng)合下,僅在上電時(shí)有充分的時(shí)間對(duì)AD676進(jìn)行校準(zhǔn),所以要特別注意,應(yīng)等到電源和電壓基準(zhǔn)穩(wěn)定以后才能開(kāi)始進(jìn)行校準(zhǔn)。

(2).一般的轉(zhuǎn)換時(shí)序 

轉(zhuǎn)換由輸入信號(hào)采集過(guò)程和16位內(nèi)部逐次逼近過(guò)程組成。

輸入信號(hào)采集過(guò)程:將SAMPLE線保持高電平狀態(tài),保持時(shí)間ts≥2μS,再將SAMPLE線變?yōu)榈碗娖?,SAMPLE下降沿所對(duì)應(yīng)的輸入電壓值Vin即為實(shí)際采樣值。SAMPLE為低電平后,輸入Vin與內(nèi)部電容陣列斷開(kāi),輸入信號(hào)采樣過(guò)程結(jié)束。值得注意的是采樣期間AD676忽略掉輸入的時(shí)鐘脈沖,應(yīng)用中為防止輸入時(shí)鐘脈沖對(duì)輸入信號(hào)干擾,采樣期間最好切斷時(shí)鐘脈沖的輸入。

16位逐次逼近轉(zhuǎn)換過(guò)程:在SAMPLE線變?yōu)榈碗娖絫sc時(shí)間后(tsc≥50nS)的17個(gè)時(shí)鐘脈沖內(nèi),AD676完成16位逐次逼近轉(zhuǎn)換過(guò)程,轉(zhuǎn)換期間BUSY變?yōu)楦唠娖?,轉(zhuǎn)換結(jié)束B(niǎo)USY變?yōu)榈碗娖?。?dāng)BUSY變?yōu)榈碗娖胶?,?shù)據(jù)被輸出到BITl―BITl6引腳上,并一直保持到下一次轉(zhuǎn)換開(kāi)始。因此,在BUSY變?yōu)榈碗娖胶蟮较乱淮无D(zhuǎn)換開(kāi)始前的任何時(shí)刻都可以讀出本次轉(zhuǎn)換的結(jié)果數(shù)據(jù)。

4 AD676在測(cè)磁設(shè)備中的應(yīng)用

已成功地將AD676應(yīng)用于艦船磁場(chǎng)高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中,這里介紹該系統(tǒng)中AD676與87C51單片微機(jī)的接口電路,接口電路如圖5所示。圖中將信號(hào)處理部分電路、電源處理部分電路及外圍電路等省去,旨在著重說(shuō)明AD676的使用方法。

87C51單片微機(jī)內(nèi)帶4K字節(jié)的程序存儲(chǔ)器EPROM。當(dāng)不需進(jìn)行外部程序存儲(chǔ)器擴(kuò)展和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器擴(kuò)展時(shí),87C51的4個(gè)8位并行口P0、P1、P2、P3全歸用戶(hù)使用。因此用87C51與AD676接口,可設(shè)計(jì)出體積小、耗電省的艦船磁場(chǎng)高速高精度數(shù)據(jù)采集設(shè)備。也適用于對(duì)體積、功耗、速度和精度要求都很苛刻的場(chǎng)合。如油井探測(cè)、地震數(shù)據(jù)采集、貴重物重量測(cè)量及其它高精度測(cè)量?jī)x器。

AD676的輸出不具備三態(tài)功能,但其輸出邏輯與CMOS和TTL兼容。因此可直接把AD676的BIT1―BIT16與87C51的P0口和P2口相接。若將AD676與8031接口,則應(yīng)擴(kuò)展兩個(gè)8位的輸入口,再將AD676的BIT1―BIT16經(jīng)輸入接口引到8031的數(shù)據(jù)總線(P0口)上。校準(zhǔn)控制CAL和轉(zhuǎn)換控制SAMPLE可接到P1或P3口的任一位上。例如由P3.0控制校準(zhǔn)CAL,由P3.1控制轉(zhuǎn)換SAMPLE,轉(zhuǎn)換結(jié)束信號(hào)BUSY接外部中斷INT0。BUSY還控制時(shí)鐘脈沖信號(hào)的輸入,如5圖所示,當(dāng)BUSY為低電平時(shí),計(jì)數(shù)器74LS90將停止工作。圖中AD587提供10V的電壓基準(zhǔn)。若采用5V的電壓基準(zhǔn),只要用AD586替代AD587即可。

由以上分析,不難編寫(xiě)出AD676校準(zhǔn)程序和數(shù)據(jù)采集轉(zhuǎn)換程序。校準(zhǔn)程序段如下:

  CLR P3.1;將SAMPLE保持低電平

  SETB P3.0;作校準(zhǔn)準(zhǔn)備

  CLR P3.0;開(kāi)始校準(zhǔn)

  JB P3.2,$ ;等待校準(zhǔn)

  數(shù)據(jù)采集轉(zhuǎn)換過(guò)程可采用查詢(xún)方式或中斷方式編寫(xiě),采用查詢(xún)方式編寫(xiě)的程序段如下:

  SETB P3.1;接通Vin給電容陣列充電

  NOP

  NOP;等待2μs

  CLR P3.1;啟動(dòng)轉(zhuǎn)換

  JB P3.2,$;等待轉(zhuǎn)換

  MOV @R0,P2;存放高8位數(shù)據(jù)

  INC R0

  MOV @R0,P0;存放低8位數(shù)據(jù)

  …

5 結(jié)束語(yǔ)

本文設(shè)計(jì)的AD676應(yīng)用方法能充分發(fā)揮其內(nèi)部的各項(xiàng)功能。如利用內(nèi)部電容陣列在不外接采樣保持器的情況下便能對(duì)艦船磁場(chǎng)進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)量、利用內(nèi)置的微控制器在測(cè)量前進(jìn)行校驗(yàn)便能獲得很好的線性度。利用其所具有的高分辨率能獲得很高的測(cè)量精度。AD676的應(yīng)用簡(jiǎn)化了電路設(shè)計(jì),降低了制作成本,并有效地提高了艦船磁場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)的性能。



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