新型高可靠性低功耗6管SRAM單元設計
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(1)空閑模式
在空閑模式下，即讀操作和寫操作都不工作的情況下，當O存在Q點時，M3打開，Qbar保持在VDD，同時M2，M4是關閉的，此時Q點的數(shù)據(jù)0可能受到漏電流IDS-M2漏電堆積，從而在Q點產(chǎn)生一定電壓，甚至可能導致Q點數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)，產(chǎn)生錯誤邏輯。因此要利用M1管的漏電流，主要是M1的亞閾值電流，為了這個目的，需要在空閑模式下將位線
拉到地，同時將字線WL保持在亞閾值工作的條件下，這樣就可以無需刷新正確存儲數(shù)據(jù)0。當1存在Q點時，M4，M2打開，在Q和Qbar之間有正反饋，因此Q點被M2管拉到VDD，Qbar被M4管拉到地，但是此時M1管是處在亞閾值條件下，因此有一條路徑從VDD到，這會導致Q點數(shù)據(jù)不穩(wěn)定，甚至有可能翻轉(zhuǎn)，由于流經(jīng)M2的電流遠遠大于流經(jīng)M1的電流，數(shù)據(jù)相對還是比較穩(wěn)定的。另一條位線BL拉到地，在空閑模式下讀路徑這端漏電流很小，可以忽略。(2)寫循環(huán)
寫1操作開始，WL高電平打開M1管，讀控制管RL關閉，
充電使得=1，BL=0，Q點開始充電到1(此時由于NMOS管傳遞的是弱1)，從而打開M4管，使Qbar=0，同時正反饋打開M2管，將Q點保持在強1；相反，寫0操作的時候，位線放電到=0，打開字線WL，Q=0，同時打開M3管，Qbar=1。在結(jié)束寫操作后，單元進入空閑模式。(3)讀循環(huán)
讀操作主要由M5，M6管負責，Qbar連接到M5管的柵極，BL充電到高電平。讀1的時候，Q=1，Qbar=0，M5關閉的，因而靈敏放大器從BL讀出的是1；當讀0操作的時候，WL字線關閉的，RL開啟，Q=0，Qbar=1，管子M5開啟，M5管和M6管共同下拉BL，讀出數(shù)據(jù)0。在結(jié)束讀操作后，單元進入空閑模式。
2．1 噪聲容限
噪聲容限是在沒有引起單元翻轉(zhuǎn)前提下引入存儲節(jié)點的最大噪聲電壓值。在讀操作的時候，噪聲容限對于單元的穩(wěn)定性更加重要，因為在傳統(tǒng)的SRAM中讀噪聲容限和讀的電流是沖突的，提高讀電流速度的同時會降低讀噪聲容限為代價，所以在傳統(tǒng)SRAM結(jié)構(gòu)中，讀電流和讀噪聲容限不可以分開獨立調(diào)節(jié)，兩者是相互影響制約的。而新結(jié)構(gòu)采用獨立的讀電流路徑，不包括存儲節(jié)點，因而在讀操作的時候，位線上的電壓波動和外部噪聲幾乎不會對存儲節(jié)點造成影響，從而大大的增加了讀噪聲容限。
2．2 漏電流
從以上分析可知，當數(shù)據(jù)存0的時候，新型6T-SRAM是通過M1管的亞閾值電流來保持數(shù)據(jù)的；當數(shù)據(jù)存1的時候，由于M2，M4的正反饋作用，并且在空閑狀態(tài)下M1處于亞閾值導通狀態(tài)，所以存在從電源電壓到地的通路，這些都會導致漏電流的增加圖3顯示了這條路徑。在大部分數(shù)據(jù)和指令緩存器中，所存的值為0居多，分別占到75％和64％?；谶@些考慮，在標準0．18μm CMOS工藝下，對普通6T-SRAM和新型6T-SRAM進行了平均漏電流仿真。傳統(tǒng)6T-SRAM漏電流為164 nA，新型6T-SRAM漏電流為179 nA，新型SRAM比傳統(tǒng)的大9％，這是可以接受的范圍因為新型SRAM采用漏電流保持技術，從而不需要數(shù)據(jù)的刷新來維持數(shù)據(jù)，另外漏電泄露不會在Q點產(chǎn)生過高的浮空電壓，因而數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定。本文引用地址：http://m.ptau.cn/article/178360.htm
2．3 功耗
一般而言，位線是產(chǎn)生動態(tài)功耗的主要部分，所以說往往在讀／寫操作轉(zhuǎn)換過程中位線的變化會消耗主要的功耗，本文對傳統(tǒng)6T-SRAM和新型6T-SRAM單元結(jié)構(gòu)進行了功耗仿真，如表1所示。
表1中可以看出，在傳統(tǒng)的6T-sRAM讀／寫過程中，對稱結(jié)構(gòu)的兩個位線電壓的變化是一致的，因而功耗是相同的。新型6T-SRAM單元功耗比傳統(tǒng)單元低了很多，這是因為在讀／寫操作的時候，參與工作的管子數(shù)量少，并且只有一個位線參與工作，并且在寫0的時候，由于位線是0，所以功耗很低。
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