基于80C196的采樣與A/D處理
介質(zhì)損耗儀是一種測(cè)試高壓絕緣體性能狀況的儀器,原理為從標(biāo)準(zhǔn)通道取得的電信號(hào)與被試通道取得的電信號(hào)相比較、分析與處理來(lái)得出被試體的絕緣狀況。被試體可等效為電阻與電容的并聯(lián)。圖1為原理結(jié)構(gòu)圖。在分析處理中,需要得出精確的兩個(gè)通道信號(hào)的大小, 和求出兩通道信號(hào)的相角之差。由于采樣環(huán)境惡劣與對(duì)采樣精度的高要求,采樣設(shè)計(jì)應(yīng)注意:一:采用高的采樣頻率,拓寬原始信號(hào)的頻域,保證原始信號(hào)的最小失真的采樣;二:為克服采樣的壞環(huán)境和得到高精度的 A/D轉(zhuǎn)換量化值,應(yīng)選用高精度與高線(xiàn)性度的A/D轉(zhuǎn)換芯片;三:為保證相角差的測(cè)量,兩個(gè)通道應(yīng)同時(shí)開(kāi)始采樣;三DFT處理:為了對(duì)采樣來(lái)的離散點(diǎn)信號(hào)進(jìn)行快速傅立葉變換,采樣的時(shí)間段為一個(gè)周期。在實(shí)時(shí)采樣中采樣頻率實(shí)現(xiàn)的問(wèn)題上,有多種方案,可以由嵌入式的微處理控制器設(shè)定頻率觸發(fā)A/D轉(zhuǎn)換器的采樣,像如利用DSP處理芯片其采樣周期只有25ns甚至更??;也可設(shè)計(jì)專(zhuān)門(mén)的硬件組成觸發(fā)電路。在本儀器中是利用一種普通的微控器(80C196)結(jié)合鎖相環(huán)組成的外圍硬件觸發(fā)采樣的。下面講述這種采樣的原理與實(shí)現(xiàn)。
本文引用地址:http://m.ptau.cn/article/171860.htm1 原理介紹
由于單位周期內(nèi)采樣點(diǎn)越多,測(cè)得的值就越精確。本設(shè)計(jì)中一個(gè)原始信號(hào)周期擬采樣512個(gè)點(diǎn),工頻的頻率為50Hz,所以采樣頻率大概就是25600Hz,其可包含更寬的原始信號(hào)頻域,采樣更真實(shí)。采樣就是要把真實(shí)的信號(hào)存入處理器存貯內(nèi),以供處理調(diào)用。此全過(guò)程有采樣觸發(fā)與A/D轉(zhuǎn)換兩個(gè)部分。
1.1 采樣觸發(fā)
采樣觸發(fā)圖如下:
圖2 觸發(fā)電路
評(píng)論