美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)于近日發(fā)布NI PXIe-5162數(shù)字化儀，并更新了LabVIEW抖動分析工具包。 該數(shù)字化儀帶有10位垂直分辨率和5 GS/s采樣率，它的高速測量垂直分辨率是傳統(tǒng)8位示波器的4倍。 NI PXIe-5162單個插槽中具備1.5 GHz的帶寬和四個通道，適用于高通道數(shù)數(shù)字化儀系統(tǒng)的生產(chǎn)測試、研究和設(shè)備特性記述。工程師們因此可以結(jié)合使用LabVIEW與數(shù)字化儀，以及LabVIEW抖動分析工具包中專門為高吞吐量的抖動、眼圖和相位噪聲測量優(yōu)化過的函數(shù)庫，以滿足自動化驗證和生產(chǎn)測試環(huán)境所需。　　

 

　　“NI PXIe-5162數(shù)字化儀結(jié)合了高速、高通道和高分辨率測量三大特點，讓傳統(tǒng)的示波器用戶突破了使用傳統(tǒng)箱型儀器進行自動化測試的界限，”NI模塊化儀器研發(fā)總監(jiān)Steve Warntjes表示。 “使用我們的高速數(shù)字化儀與LabVIEW抖動分析工具包，可以幫助工程師借助現(xiàn)代PC的處理性能，而不是箱型示波器上傳統(tǒng)的嵌入式處理器，加快測量系統(tǒng)的速度。”

　　NI PXIe-5162 特性

• 10位垂直分辨率，可更深入地解讀信號
• 單個3U PXI Express插槽包含4個通道，在一個PXI機箱中可擴展至68個通道
• 一個通道上5 GS/s的最大采樣率或同時使用四個通道，每通道1.25 GS/s采樣率

　　LabVIEW抖動分析工具包特性

• 內(nèi)置時鐘恢復(fù)、眼圖、抖動、電平和時域測量函數(shù)
• 眼圖和掩膜測試的示例程序，以及使用雙狄拉克(dual-Dirac)和基于頻譜的分離方法，進行隨機抖動和確定性抖動(RJ/ DJ)分離的示例程序