德國羅森漢姆，2011年8月----Multitest的老化測(cè)試產(chǎn)品事業(yè)部從一家大型歐洲汽車IDM那里獲得了多份老化測(cè)試板續(xù)訂訂單。

　　Multitest的老化測(cè)試板(BIB)業(yè)務(wù)始于2010年，充分發(fā)揮其在ATE板設(shè)計(jì)、制造和組裝方面的能力及其測(cè)試座和測(cè)試方面的技術(shù)專知。迄今為止，Multitest已經(jīng)在20家客戶取得了資格，其中包括大型國際IDM。應(yīng)用范圍從4G無線產(chǎn)品、航空航天應(yīng)用、系統(tǒng)單晶片到微處理器。

　　Multitest老化產(chǎn)品小組經(jīng)驗(yàn)豐富。以公司深厚專業(yè)知識(shí)為基礎(chǔ)，Multitest能夠提供足以應(yīng)對(duì)當(dāng)今挑戰(zhàn)的領(lǐng)先老化測(cè)試解決方案，比如更短的老化時(shí)間或智能老化測(cè)試。除了硬件之外，Multitest還為客戶提供完整的過程和應(yīng)用支持。憑借公司的最終測(cè)試技術(shù)優(yōu)勢(shì)，Multitest能開發(fā)針對(duì)老化測(cè)試的定制解決方案。