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美國再次放寬對華高技術(shù)產(chǎn)品出口 65nm以下刻蝕設(shè)備不再受限

作者: 時間:2010-10-09 來源:SEMI 收藏

  在SEMI及會員公司的共同努力下,經(jīng)過9個月的等待,美國聯(lián)邦政府正式實施放寬的出口條件,原來180nm的技術(shù)審核指標被正式放寬到了a。

本文引用地址:http://m.ptau.cn/article/113313.htm


關(guān)鍵詞: 刻蝕設(shè)備 65nm

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