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AEC-Q104芯片模組車規(guī)級認證解讀

發(fā)布人:falab123 時間:2023-04-19 來源:工程師 發(fā)布文章

AEC-Q104是車載應用多芯片模塊的可靠性應力測試標準。

電子控制零部件、導航、娛樂、無線多媒體電子部件等越來越多,汽車的系統(tǒng)也變得越來越復雜,芯片模塊可靠性的重要性也隨之凸顯,這直接決定了整車的行駛安全性和產品的可靠性。

AEC-Q104的檢測標準依據汽車在實際使用過程中的環(huán)境,多樣化的 復雜 環(huán)境,因此增加了試驗的順序,檢測通過的難度隨之增加,同時增加了模組特殊測試。

AEC-Q104認證規(guī)范中,共分為A-H八大系列。其中,一大原則,在于MCM上使用的所有組件,包括電阻電容電感等被動組件、二極管離散組件、以及IC本身,在組合前若有通過AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200,MCM產品只需進行AEC-Q104H內僅7項的測試,包括4項可靠性測試:TCT(溫度循環(huán))、Drop(落下)、Low Temperature Storage Life(LTSL)、Start Up & Temperature Steps(STEP);以及3項失效類檢驗:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA);若MCM上的組件未先通過AEC-Q100、AEC-Q101與AEC-Q200,那必須從AEC-Q104的A-H八大測項共49項目中,依據產品應用,決定驗證項目,驗證項目會變得比較多。

AEC-Q104上,為了依據MCM在汽車上實際使用環(huán)境,為復合式的環(huán)境,因此增加順序試驗,驗證通過的難度變高。例如,必須先執(zhí)行完High Temp Operating Life(HTOL),才能做Thermal Shock(TS),顛倒過來就不行。AEC-Q104中針對MCM,增加H系列的測項;此外,針對零件本身的可靠性測試(Component Level Reliability),也增加了Thermal Shock(TS)及外觀檢視離子遷移(VISM)。

產品范圍:

1、混合集成放大器(前置、脈沖、高頻放大器等)

2、電源組件(DC/DC、AC/DC變換器、EMI濾波器等)

3、功率組件(功率放大器、電動機伺服電路、功率振蕩器等)

4、數/模、模/數轉換器(A/C、D/A轉換器等)

5、軸角-數字轉換器(同步機-數字轉換器/分解器、雙數轉換器等)

6、信號處理電路(采樣保持電路、調制解調電路等)

測試項目:

華碧實驗室依據車規(guī)級多芯片模塊可靠性測試標準,憑借多年豐富的認證檢測經驗,指導供應商深入了解產品的可靠性能,優(yōu)化生產工藝流程與芯片模塊性能,助力企業(yè)進軍汽車供應鏈市場。

有問題聯系劉工 13625289200

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關鍵詞: AECQ104

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