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利用高速信號(hào)鏈提高醫(yī)學(xué)成像質(zhì)量

  • 僅僅增加傳感器和信號(hào)鏈，可能會(huì)引發(fā)包括系統(tǒng)尺寸及功耗增大在內(nèi)的不利影響。但是，用于醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的最新一代信號(hào)鏈組件使醫(yī)療系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員既能改善信號(hào)鏈密度和功耗，同時(shí)又不影響動(dòng)態(tài)性能——即系統(tǒng)同時(shí)實(shí)現(xiàn)更高的成像質(zhì)量、更低的功耗及更小的尺寸。
  • 關(guān)鍵字： 高速信號(hào)鏈  醫(yī)學(xué)成像  傳感器陣列  ADC  

基于高速信號(hào)鏈提高醫(yī)學(xué)成像質(zhì)量的設(shè)計(jì)研究

  • 與所有非常依賴科技進(jìn)步的行業(yè)一樣，醫(yī)學(xué)成像設(shè)備廠商不得不持續(xù)改進(jìn)他們的產(chǎn)品——主要是改進(jìn)系統(tǒng)的成像質(zhì)量。無論是超聲波反射聲波、核磁共振成像 (MRI) 磁場(chǎng)擾動(dòng)還是正電子發(fā)射斷層成像 (PET) 的正。
  • 關(guān)鍵字： ADC  MRI  成像  信號(hào)鏈  

片上可編程系統(tǒng)在地震數(shù)據(jù)采集中的應(yīng)用

  • 通過靈活配置，采用包括NiosII CPU軟核、采集控制接口、通訊接口以及數(shù)據(jù)傳輸控制模塊等一些外圍接口，配合ADC采集芯片，組成了一個(gè)具有采集控制和傳輸功能的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。通過測(cè)試和實(shí)驗(yàn)，達(dá)到了預(yù)期的設(shè)計(jì)要求?？s短了開發(fā)周期，提高了研發(fā)的工作效率。
  • 關(guān)鍵字： NiosII  ADC  數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)  

低價(jià)位嵌入式處理開發(fā)套件--Spartan-3E 1600E

  • Spartan-3E 1600E 開發(fā)套件支持靈活的 MicroBlaze 軟處理設(shè)計(jì)
  • 關(guān)鍵字： LED  DAC  ADC  FPGA  RISC  

基于C2000內(nèi)置12位ADC的電能計(jì)量方案

  • 本應(yīng)用筆記介紹了基于C2000內(nèi)核和片內(nèi)12位ADC實(shí)現(xiàn)軟件電能計(jì)量的方案。C2000是德州儀器半導(dǎo)體有限公司生產(chǎn)的32位高性能實(shí)時(shí)微控制器，廣泛應(yīng)用于諸如馬達(dá)驅(qū)動(dòng)，數(shù)字電源等各種和功率控制相關(guān)的實(shí)時(shí)控制領(lǐng)域，而電能和功率的計(jì)算在以上應(yīng)用中往往作為反饋控制的輸入信號(hào)存在。
  • 關(guān)鍵字： C2000  微控制器  德州儀器  ADC  電能計(jì)量  

模數(shù)轉(zhuǎn)換器與嵌入式微處理器的接口技術(shù)

  • 模數(shù)轉(zhuǎn)換器主要包括Sigma-Delta型、逐次逼近型和閃速型，應(yīng)用中工程師普遍關(guān)注的問題是如何提高轉(zhuǎn)換精度？
  • 關(guān)鍵字： ADC  DAC  

為窄帶、高中頻、16位、250 MSPS接收機(jī)前端設(shè)計(jì)帶通濾波器的諧振匹配方法

  • 本電路筆記介紹了如何設(shè)計(jì)接口電路和抗混疊濾波器才能在保持高性能的同時(shí)確保最低信號(hào)損耗的系統(tǒng)化過程。使用諧振匹配方法來設(shè)計(jì)最平坦的巴特沃茲四階帶通濾波器，中心頻率為200 MHz。
  • 關(guān)鍵字： ADL5565  ADI  差分放大器  ADC  AD9467  接口電路  抗混疊濾波器  

Σ-Δ型ADC拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)基本原理

  • Σ-Δ型ADC是當(dāng)今信號(hào)采集和處理系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員的工具箱中必不可少的基本器件。本文的目的是讓讀者對(duì)Σ-Δ型號(hào)ADC拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)背后的根本原理有一個(gè)基本了解。本文探討了與ADC子系統(tǒng)設(shè)計(jì)相關(guān)的噪聲、帶寬、建立時(shí)間和所有其他關(guān)鍵參數(shù)之間的權(quán)衡分析示例，以便為精密數(shù)據(jù)采集電路設(shè)計(jì)人員提供背景信息。
  • 關(guān)鍵字： ADC  信號(hào)采集  處理系統(tǒng)  

ADC噪聲系數(shù) —— 一個(gè)經(jīng)常被誤解的參數(shù)

  • 噪聲系數(shù)(NF)是RF系統(tǒng)設(shè)計(jì)師常用的一個(gè)參數(shù)，它用于表征RF放大器、混頻器等器件的噪聲，并且被廣泛用作無線電接收機(jī)設(shè)計(jì)的一個(gè)工具。許多優(yōu)秀的通信和接收機(jī)設(shè)計(jì)教材都對(duì)噪聲系數(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的說明，本文重點(diǎn)討論該參數(shù)在數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器中的應(yīng)用。
  • 關(guān)鍵字： ADC  噪聲系數(shù)  RF系統(tǒng)設(shè)計(jì)  級(jí)聯(lián)噪聲系數(shù)  

重新思考快速寬頻ADC中的數(shù)字下變頻

  • 寬帶每秒數(shù)千兆個(gè)樣本(GSPS)模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC) 為高速采集系統(tǒng)帶來眾多性能優(yōu)勢(shì)。這些ADC在高采樣率和輸入帶寬下提供較寬的可見頻譜。然而，有些情況需要寬帶前端，有些則要求能夠?yàn)V波并調(diào)諧為較窄的頻帶。
  • 關(guān)鍵字： 數(shù)字下變頻  ADC  快速寬頻  

ADC中的集成式容性PGA：重新定義性能

  • ADI專利的容性可編程增益放大器(PGA)相比傳統(tǒng)的阻性PGA具有更佳的性能，包括針對(duì)模擬輸入信號(hào)的更高共模電壓抑制能力。
  • 關(guān)鍵字： ADC  PGA  增益放大器  

信號(hào)鏈基礎(chǔ)知識(shí) # 50：彌合高速數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器連續(xù)波和調(diào)制信號(hào)測(cè)量之間的差異

基于片上ADC/DAC實(shí)現(xiàn)精度可調(diào)ADC的方法

  • 某系統(tǒng)的A／D模塊需實(shí)現(xiàn)檢測(cè)輸入電壓值，變化范圍為0～58 V。主芯片選用NXP公司的ARM7系列的LPC2368，片上自帶10位ADC和DAC，ADC測(cè)量輸入電壓范圍是0～3 V，而DAC的范圍是0～3 V。傳統(tǒng)方法是直接將輸入電壓送入ADC法滿足精度要求，但輸入電壓的變化范圍大于ADC的輸入電壓范圍。基于此，這里給出一種利用MCU自帶ADC和DAC，并結(jié)合運(yùn)放、電容、電阻等元件搭建外圍硬件電路，實(shí)現(xiàn)10～20位測(cè)量精度可調(diào)的ADC的方法。
  • 關(guān)鍵字： ADC/DAC  精度  運(yùn)算電路  

基于IML工藝的天線設(shè)計(jì)方法

  • 本文簡(jiǎn)要介紹了一款基于IML工藝制程天線的高效設(shè)計(jì)方法。由于基于這種工藝的天線無法用傳統(tǒng)的方法調(diào)試，所以本文采用了一種新的設(shè)計(jì)調(diào)試方法——用電磁仿真軟件AMDS設(shè)計(jì)、優(yōu)化天線。通過仿真找到天線的敏感區(qū)，通過設(shè)計(jì)控制、減少甚至避免在IML工藝流程中由于拉伸變形而產(chǎn)生的天線性能的變化。
  • 關(guān)鍵字： IML  仿真  敏感區(qū)  SAR  HAC  

電力數(shù)據(jù)采集A/D轉(zhuǎn)換器的選擇方案

  • 　當(dāng)今社會(huì)對(duì)電能質(zhì)量的要求越來越高，國(guó)家還專門制定了電能質(zhì)量的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。因此，電能質(zhì)量的測(cè)量越來越得到電力用戶的重視。電能測(cè)量時(shí)，從電網(wǎng)的數(shù)據(jù)采集結(jié)果對(duì)其精度的影響起著致關(guān)重要的作用，而這其中影響最大的是把模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，往往A／D芯片的技術(shù)參數(shù)和指標(biāo)就決定了整個(gè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的性能指標(biāo)。本文就電能測(cè)量ADC的選擇作了綜述。
  • 關(guān)鍵字： ADC  A／D  數(shù)據(jù)采集  系統(tǒng)  
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