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ni-pxi 文章 進(jìn)入ni-pxi技術(shù)社區(qū)
解析PXI和cRIO電子穩(wěn)定程序硬件環(huán)仿真平臺(tái)開(kāi)發(fā)
- ESP是汽車(chē)主動(dòng)安全領(lǐng)域技術(shù)的制高點(diǎn),該項(xiàng)技術(shù)被國(guó)外大公司所壟斷,國(guó)內(nèi)尚處于研發(fā)階段。在ESP研發(fā)過(guò)程中,需要大量實(shí)車(chē)試驗(yàn)。該試驗(yàn)有兩大困難:一是試驗(yàn)具有相當(dāng)?shù)奈kU(xiǎn)性,二是試驗(yàn)對(duì)場(chǎng)地要求很苛刻。所以,開(kāi)發(fā)硬
- 關(guān)鍵字: cRIO PXI 電子穩(wěn)定程序 硬件
NI為美海軍提供通信測(cè)試設(shè)備

- 本地的一家高科技企業(yè)得到了美國(guó)海軍的合同,為海軍的監(jiān)視飛機(jī)提供通信接口集線器、同時(shí)設(shè)計(jì)相應(yīng)的數(shù)字測(cè)試設(shè)備(DTE)來(lái)驗(yàn)證該接口的初始功能,并且提供長(zhǎng)達(dá)20年的持續(xù)驗(yàn)證用于現(xiàn)場(chǎng)維護(hù)。使用美國(guó)國(guó)家儀器公司的PXI平臺(tái),ALE System Integration公司為該平臺(tái)提供了專(zhuān)業(yè)化的硬件集成和軟件開(kāi)發(fā)方案。
- 關(guān)鍵字: NI LabVIEW DTE設(shè)備
在射頻產(chǎn)品設(shè)計(jì)中將仿真與測(cè)量相結(jié)合

- 縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期一直以來(lái)都是研發(fā)機(jī)構(gòu)的主要目標(biāo)。減少開(kāi)發(fā)時(shí)間的方法之一是將設(shè)計(jì)和測(cè)試工作同步進(jìn)行——即通常遵循V型圖產(chǎn)品開(kāi)發(fā)模式。這種方法已經(jīng)應(yīng)用于汽車(chē)業(yè)和航空業(yè)。
- 關(guān)鍵字: NI EDA 設(shè)計(jì)和測(cè)試
基于PXI總線的寬帶頻率計(jì)設(shè)計(jì)
- 頻率信號(hào)具有抗干擾性強(qiáng),易于傳輸,易于保持信息完整性和可以獲得較高測(cè)量精度等優(yōu)點(diǎn),被廣泛應(yīng)用于日常生活、工業(yè)等各個(gè)領(lǐng)域,頻率測(cè)量成為信息提取、設(shè)備檢測(cè)等過(guò)程中的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。頻率檢測(cè)作為電子測(cè)量領(lǐng)域最
- 關(guān)鍵字: PXI 總線 寬帶 頻率計(jì)設(shè)
PXI TAC 2010:展望未來(lái)自動(dòng)化測(cè)試關(guān)鍵技術(shù)
- 作為測(cè)試、測(cè)量和自動(dòng)化應(yīng)用的標(biāo)準(zhǔn)平臺(tái),PXI正在以年復(fù)合增長(zhǎng)率17.6%的速度在多個(gè)行業(yè)得到應(yīng)用。而深受行業(yè)廠商及工程師歡迎的年度技術(shù)盛會(huì) PXI技術(shù)和應(yīng)用論壇(PXI Technology and Application Conference,簡(jiǎn)稱(chēng)PXI
- 關(guān)鍵字: 2010 PXI TAC 自動(dòng)化測(cè)試
CompactRIO測(cè)試技術(shù)在油泵功能測(cè)試線中的應(yīng)用

- XLM2線功能測(cè)試臺(tái)主要承擔(dān)對(duì)油泵支架總成各項(xiàng)性能的檢測(cè)。主要針對(duì)通用公司以及福特公司的12種配套車(chē)型的油泵支架系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。其主要測(cè)試參數(shù)包括:油體浮子液位阻值(TSG電阻),油泵啟動(dòng)電流,CO接地電阻,DRV接地電阻,油泵轉(zhuǎn)動(dòng)極性以及產(chǎn)品條碼掃描等一系列關(guān)鍵參數(shù)。
- 關(guān)鍵字: NI 測(cè)試 COMPACTRIO
基于CompactRIO的發(fā)動(dòng)機(jī)連桿疲勞試驗(yàn)系統(tǒng)研究

- 強(qiáng)度、剛度和疲勞壽命是衡量工程機(jī)械機(jī)構(gòu)和零件可靠性的主要參數(shù),疲勞破壞是機(jī)械機(jī)構(gòu)和零件失效的主要原因之一(據(jù)統(tǒng)計(jì),連桿60%到90%的破壞都是疲勞破壞),而引起疲勞破壞的主要原因是動(dòng)態(tài)交變載荷。
- 關(guān)鍵字: NI LabVIEW CompactRIO
獨(dú)立NI CompactDAQ系統(tǒng)用于高性能嵌入式測(cè)量與數(shù)據(jù)記錄應(yīng)用

- NI 發(fā)布了獨(dú)立數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),能夠與超過(guò)50種傳感器I/O模塊兼容,實(shí)現(xiàn)靈活的混合信號(hào)測(cè)量與數(shù)據(jù)記錄,進(jìn)一步拓展了NI CompactDAQ平臺(tái)。 此獨(dú)立NI CompactDAQ系統(tǒng)包含內(nèi)置雙核Intel處理器和板載存儲(chǔ),可在單一系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)便攜式高性能處理任務(wù)。 使用NI LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件,工程師可以自定義一個(gè)數(shù)據(jù)記錄或嵌入式監(jiān)控系統(tǒng),在同一個(gè)環(huán)境中實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集、分析和顯示。
- 關(guān)鍵字: NI LabVIEW
基于PXI的無(wú)源干擾設(shè)備測(cè)試診斷系統(tǒng)
- 本文采用PXI總線和LabVIEW技術(shù)組建了一個(gè)用于無(wú)源干擾設(shè)備二線檢測(cè)維修的測(cè)試診斷系統(tǒng)。該系統(tǒng)利用NI公司的 ...
- 關(guān)鍵字: PXI 無(wú)源干擾 設(shè)備測(cè)試 診斷系統(tǒng)
仿真與測(cè)量相結(jié)合運(yùn)用在射頻產(chǎn)品設(shè)計(jì)中
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
- 關(guān)鍵字: 射頻 NI 測(cè)試測(cè)量 EDA
使用LabVIEW和PXI進(jìn)行東海大橋結(jié)構(gòu)健康監(jiān)測(cè)

- 東海大橋作為中國(guó)首座跨海大橋,耗資12億美元,于2005年完成通車(chē)。六車(chē)道的大橋?qū)⑸虾Ec洋山島連在了一起,大橋全長(zhǎng)32.5千米,并設(shè)計(jì)成S形以避開(kāi)臺(tái)風(fēng)和海浪區(qū),以保證車(chē)輛安全行駛。
- 關(guān)鍵字: NI 數(shù)據(jù)采集 傳感器
使用NI LabVIEW對(duì)手機(jī)LCD組件進(jìn)行靈活可靠的自動(dòng)化測(cè)試

- 我們使用NI PXI平臺(tái)開(kāi)發(fā)了一套高可靠和靈活的測(cè)試系統(tǒng)。NI LabVIEW程序可以完成多種測(cè)試功能——視覺(jué)檢測(cè),聲音測(cè)試,電流電壓測(cè)量、揚(yáng)聲器激振等。系統(tǒng)的主要測(cè)試項(xiàng)目是使用數(shù)字I/O模塊(NI PXI-6508)對(duì)LCD屏幕生成多種圖形信號(hào)然后對(duì)它進(jìn)行視覺(jué)檢測(cè)。
- 關(guān)鍵字: NI LCD 測(cè)試系統(tǒng)
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