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如何選擇正確的芯片驗(yàn)證方法
- 眾所周知，功能驗(yàn)證在芯片的整個(gè)設(shè)計(jì)周期中占用的時(shí)間最多。盡管目前有許多技術(shù)可用于減少驗(yàn)證時(shí)間，但最終應(yīng)當(dāng)如何選擇？答案并不簡(jiǎn)單明了
- 關(guān)鍵字： SystemC視角芯片驗(yàn)
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systemc視角芯片驗(yàn)介紹
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