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泰克自動(dòng)化接收器測(cè)試方案，提升PCIe測(cè)試驗(yàn)證精度與效率

_____近二十年來(lái)，PCI Express技術(shù)已成為廣泛采用的高速串行接口連接標(biāo)準(zhǔn)。最新的 PCIe規(guī)范滿(mǎn)足了數(shù)據(jù)密集型市場(chǎng)的需求，例如人工智能/機(jī)器學(xué)習(xí)和高性能計(jì)算。泰克PCIe 自動(dòng)化測(cè)試解決方案能夠處理設(shè)置和校準(zhǔn)，顯著降低了測(cè)試復(fù)雜性。與低噪音測(cè)量硬件相結(jié)合，可實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確且可重復(fù)的信號(hào)完整性測(cè)量。作為 PCI-SIG工作組的活躍投票成員，泰克擁有發(fā)射機(jī)、接收機(jī)、參考時(shí)鐘和鎖相環(huán) (PLL) 驗(yàn)證所需的豐富專(zhuān)業(yè)知識(shí)。泰克公司推出的PCI Express接收器測(cè)試套件，通過(guò)自動(dòng)化軟件和行業(yè)領(lǐng)先的測(cè)
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自從PCIe 1.0規(guī)范以來(lái)，在不到20年里，業(yè)界已經(jīng)為迎接PCIe Gen 6.0規(guī)范作好準(zhǔn)備。由于每一代新標(biāo)準(zhǔn)較上一代的數(shù)據(jù)速率都會(huì)翻一番，PCIe Gen 6.0的速度要比2003年問(wèn)世的最初PCIe Gen 1.0規(guī)范快25倍。數(shù)據(jù)速率每三年翻一番，給負(fù)責(zé)物理層性能的驗(yàn)證工程師帶來(lái)了無(wú)盡的挑戰(zhàn)，包括PHY、芯片、插件和系統(tǒng)，因?yàn)楫?dāng)前市場(chǎng)上的測(cè)試設(shè)備并不能完全滿(mǎn)足所有這些器件的測(cè)試需求。關(guān)鍵電氣驗(yàn)證設(shè)備的性能不斷提高，比如示波器和誤碼率測(cè)試儀(BERT)，盡管可以解決絕大部分挑戰(zhàn)，但性能的提高也影響
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