adc自動(dòng)測(cè)試 文章 進(jìn)入adc自動(dòng)測(cè)試技術(shù)社區(qū)
基于NI VirtualBench和LabVIEW的ADC自動(dòng)化測(cè)試
- 伴隨著通信系統(tǒng)對(duì)高頻率、大帶寬以及多通信模式的需求，模數(shù)轉(zhuǎn)換器(Analog-to-DigitalConvertor,ADC)的設(shè)計(jì)正趨向于高速高精度發(fā)展，與此同時(shí)也給芯片測(cè)試帶來了更大的挑戰(zhàn)。本文基于NIVirtual Bench硬件平臺(tái)，提出了一套自動(dòng)化測(cè)試方案，該測(cè)試方案采用碼密度直方圖法和FFT頻譜分析法實(shí)現(xiàn)ADC芯片的靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)的自動(dòng)化測(cè)試。
- 關(guān)鍵字： ADC自動(dòng)測(cè)試，F(xiàn)FT頻譜分析法 201901
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adc自動(dòng)測(cè)試介紹
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